Батин Роман Евгеньевич

Статьи

Статья

Батин Р. Е.
От имитации к инновации: тест Тьюринга в современных исследованиях искусственного интеллекта = From Imitation to Innovation: The Turing Test in Сontemporary AI Research / Батин Р. Е. // Наука, технологии и бизнес : материалы 6-ой Межвузовской конференции аспирантов, соискателей и молодых учёных, Москва, 16-18 апреля 2024 года / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М., 2024. - С. 9-14.

подробнее