Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
12 записей
Бублик В. Т., Мильвидский А. М.
   Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / Бублик В. Т., Мильвидский А. М. - Издательский Дом МИСиС, 2006.
ЭБС «IPRbooks»
Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебник для вузов / Э. В. Суворов. — 3-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 342 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-17203-4.
ЭБС «Юрайт»
Страница: ... 1 2