12 записей
Бублик В. Т., Мильвидский А. М.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / Бублик В. Т., Мильвидский А. М. - Издательский Дом МИСиС, 2006.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / Бублик В. Т., Мильвидский А. М. - Издательский Дом МИСиС, 2006.
