Расширенный поиск

Волобуев А. Н., Скворцов А. В.
   О возможности сверхотражения электромагнитного излучения от поверхности металла / Волобуев А. Н., Скворцов А. В. // Вестник машиностроения. - 2008. - № 5. - С. 27-31.

   Всесоюзная конференция по электронной микроскопии, десятая, Ташкент, 5 октября - 8 октября 1976 г. : тезисы докладов / Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии, Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова, Институт физики твёрдого тела, Академия наук Узбекской ССР, Министерство здравоохранения Узбекской ССР, Ташкентский медицинский институт, Институт биохимии, Институт ядерной физики, Институт электроники. - М., 1976.
   Т. 1. - 1976. - 388 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

   Всесоюзная конференция по электронной микроскопии, десятая, Ташкент, 5 октября - 8 октября 1976 г. : тезисы докладов / Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии, Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова, Институт физики твёрдого тела, Академия наук Узбекской ССР, Министерство здравоохранения Узбекской ССР, Ташкентский медицинский институт, Институт биохимии, Институт ядерной физики, Институт электроники. - М., 1976.
   Т. 2. - 1976. - 401 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

   Вычисление характеристик переноса заряженных частиц в биологических материалов / Давидян А. П., Ерёмин А. В., Ерёмин В. В., Смоляр В. А. // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2008. - № 4. - С. 37-44.

   Генерация пучков заряженных частиц в диодах со взрывоэмиссионным катодом : [монография] / Пушкарев А. И., Исакова Ю. И., Сазонов Р. В., Холодная Г. Е. - М. : Физматлит, 2013. - 237 с. : ил. - Библиогр.: с. 229-237. - ISBN 978-5-9221-1411-0.

Далидчик Ф. И., Ковалевский С. А., Балашов Е. М.
   Поляризационные эффекты в туннельной резонансной спектроскопии точечных дефектов и единичных наночастиц / Далидчик Ф. И., Ковалевский С. А., Балашов Е. М. // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, № 7-8. - С. 87-90.

Дудников В. Г.
   Источники отрицательных ионов / Дудников В. Г. ; Новосибирский государственный университет. - 2-е изд., доп. - Новосибирск : Изд-во Новосиб. гос. ун-та, 2019. - 309 с. : ил. - Библиогр.: с. 279-306. - ISBN 978-5-4437-0848-5.

Дюков В. Г., Непийко С. А., Седов Н. Н.
   Электронная микроскопия локальных потенциалов / Дюков В. Г., Непийко С. А., Седов Н. Н. ; Академия наук Украинской ССР, Институт физики. - Киев : Наукова думка, 1991. - 198 с. : ил. - Библиогр.: с. 190-196. - ISBN 5-12-002339-8.

Егоров Н. В., Шешин Е. П.
   Автоэлектронная эмиссия. Принципы и приборы : [учебник-монография] / Егоров Н. В., Шешин Е. П. - Долгопрудный : Интеллект, 2011. - 703 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91559-027-3.

Зевайль А., Томас Дж.
   Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени : [учеб. пособие] / Зевайль А., Томас Дж. ; пер. с англ. Сухов А. В. - Долгопрудный : Интеллект, 2013. - 327 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91559-102-7.