Расширенный поиск

Коржавый А. П., Шаталов В. К.
   Микродуговое оксидирование в технике создания эмитирующих наноструктур лазерных газоразрядных датчиков / Коржавый А. П., Шаталов В. К. // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2016. - Т. 21, № 1. - С. 78-84.

Лебедев Е. Н., Грузевич Ю. К., Морозов С. П.
   Математическая модель преобразователя спектра оптического излучения с металлическим покрытием / Лебедев Е. Н., Грузевич Ю. К., Морозов С. П. // Оптико-электронные приборы / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1988. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 519). - С. 65-79.

Масленников О. Ю., Рухляда П. Н.
   Абсорбция водорода и изменение эмиссионных свойств рутения / Масленников О. Ю., Рухляда П. Н. // Наукоемкие технологии. - 2007. - Т. 8, № 2-3. - С. 88-91.

Немтинов В. Б.
   Математическое моделирование оптико-электронных систем / Немтинов В. Б. // Оптико-электронные приборы / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1988. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 519). - С. 3-19.

Петин Б. Ф., Левов С. Н., Тростенюк Ю. В.
   Твердотельный преобразователь тепловых изображений / Петин Б. Ф., Левов С. Н., Тростенюк Ю. В. // Оптико-электронные приборы / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1988. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 519). - С. 79-94.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Уэйли Жу, Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

Синдо Д., Оикава Т.
   Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : пер. с англ. / Синдо Д., Оикава Т. ; пер. Иванов С. А. - М. : Техносфера, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-064-4.

   Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-200-7.