Расширенный поиск

Илюшин А. С., Орешко А. П.
   Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов : в 2 ч. / Илюшин А. С., Орешко А. П. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - (Авторский учебник). - ISBN 978-5-534-04317-4.
   Ч. 1. - 2019. - 326 с. : ил. - ISBN 978-5-534-04316-7.

Илюшин А. С., Орешко А. П.
   Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов : в 2 ч. / Илюшин А. С., Орешко А. П. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - (Авторский учебник). - ISBN 978-5-534-04317-4.
   Ч. 2. - 2019. - 298 с. : ил. - Библиогр.: с. 268-298. - ISBN 978-5-534-04324-2.

Ковалев А. А., Лобанова Е. М., Завозин В. А.
   Применение метода DAFS для оценки элементного состава приборных наноструктур / Ковалев А. А., Лобанова Е. М., Завозин В. А. // Технология металлов. - 2019. - № 6. - С. 40-46.

Косенков В. М.
   Рентгенография в реакторном материаловедении / Косенков В. М. ; Ульяновский гос. ун-т. - 2-е изд., перераб. и доп. - Ульяновск, 2006. - 167 с. : ил. - Библиогр.: с. 160-167. - ISBN 5-88868-253-4.

   Моделирование свойств кристаллической решетки / Задорожный Н. А., Тимченко С. Л., Винтайкин Б. Е., Быков С. Д., Мараков В. Д. // Современный физический практикум : сборник трудов XIV Международной учебно-методической конференции, Москва, 27-29 сент. 2016 г. / ред. Калачёв Н. В., Шапочкин М. Б. ; РАН, Физический ин-т им. П. Н. Лебедева РАН, Национальный исследовательский ун-т, МГТУ им. Н. Э. Баумана, Московское физическое о-во. - М., 2016. - С. 38-39.

Нахмансон М. С., Фекличев В. Г.
   Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами / Нахмансон М. С., Фекличев В. Г. - Л. : Машиностроение, Ленинградское отделение, 1990. - 357 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.: с. 345-355. - ISBN 5-217-00915-2.

   Особенности применения методов рентгеноструктурного анализа в исследовании материалов / Ковалев А. А., Тищенко Л. А., Шашурин В. Д., Галиновский А. Л. // Технология металлов. - 2017. - № 7. - С. 2-11.

Порай-Кошиц М. А.
   Практический курс рентгеноструктурного анализа : учеб. пособие для ун-тов / Порай-Кошиц М. А. ; ред. Бокия Г. Б. - М. : Изд-во Московского университета, 1960.
   Т. 2. - 1960. - 631 с. : ил.

Русов В. Д., Бабикова Ю. Ф., Ягола А. Г.
   Восстановление изображений в электронно-микроскопической авторадиографии поверхности / Русов В. Д., Бабикова Ю. Ф., Ягола А. Г. - М. : Энергоатомиздат, 1991. - 213 с. : ил. - Библиогр.: с. 207-212. - ISBN 5-283-03046-6.

Сатдарова Ф. Ф.
   Дифракционный анализ деформированных металлов. Теория, методика, программное обеспечение : монография / Сатдарова Ф. Ф. - М. : РИОР : ИНФРА-М, 2018. - 203 с. : ил. - (Научная мысль). - Библиогр.: с. 194-201. - ISBN 978-5-369-01527-8. - ISBN 978-5-16-011559-7. - ISBN 978-5-16-104139-0.