Расширенный поиск

   Рассеяние энергии при колебаниях механических систем : материалы 12-ой Республиканской научной конференции, Киев 1980 г. / АН УССР, Институт проблем прочности ; отв. ред. Писаренко Г. С. - Киев : Наук. думка, 1982. - 326 с. : рис., граф. - Библиогр. в конце статей.

   Рассеяние энергии при колебаниях механических систем : материалы 13-ой Республиканской научной конференции, Киев, 1983 г. / АН УССР, Институт проблем прочности ; отв. ред. Писаренко Г. С. - Киев : Наук. думка, 1985. - 309 с. : граф. - Библиогр. в конце статей.

   Рассеяние энергии при колебаниях механических систем : материалы 14-ой Республиканской научной конференции, Чернигов, 1986 г. / АН УССР, Институт проблем прочности ; отв. ред. Писаренко Г. С. - Киев : Наук. думка, 1989. - 312 с. : граф., схемы. - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-12-001016-4.

Рассоха С. С., Ладов С. В., Бабкин А. В.
   Анализ осевого вращательного движения рифленых кумулятивных облицовок / Рассоха С. С., Ладов С. В., Бабкин А. В. - DOI 10.18698/0236-3941-2016-6-74-88 // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Машиностроение. - 2016. - № 6. - С. 74-88.

Рассоха С. С., Страхов С. В., Метасов В. Ф.
   Использование «экранов» для снижения влияния деталей с осевым отверстием на кумулятивное действие по преграде / Рассоха С. С., Страхов С. В., Метасов В. Ф. // Известия Российской Академии ракетных и артиллерийских наук. - 2016. - № 4. - С. 113-119.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Уэйли Жу, Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9963-1110-1.

   Расчёт деталей машин на коррозионную усталость / Олейник Н. В., Вольчев А. В., Бершак С. В., Васильев Н. Р. - Киев : Тэхника, 1990. - 148 с. : табл., граф. - Библиогр.: с.146-148. - ISBN 5-335-00185-2.

   Расчет деформаций фрикционного соединения, нагруженного сжимающей силой и произвольной системой моментов / Иванов А. С., Ермолаев М. М., Куралина Н. Н., Муркин С. В. // Вестник машиностроения. - 2013. - № 7. - С. 17-19.