Расширенный поиск

   Фотоэлектроника : республиканский межведомственный научный сборник / Одесский государственный университет им. И. И. Мечникова. - Киев ; Одесса : Вища школа, 1987. - ISSN 0235-2435.
   Вып. 1. - 1987. - 134 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

   Фотоэлектроника : республиканский межведомственный научный сборник / Одесский государственный университет им. И. И. Мечникова. - Киев ; Одесса : Выща школа, 1988. - ISSN 0235-2435.
   Вып. 2. - 1988. - 142 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

   Фотоэлектроника : республиканский межведомственный научный сборник / Одесский государственный университет им. И. И. Мечникова. - Киев ; Одесса : Либидь, 1990. - ISSN 0235-2435.
   Вып. 3. - 1990. - 142 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

   Фотоэлектроника : республиканский межведомственный научный сборник / Одесский государственный университет им. И. И. Мечникова. - Киев ; Одесса : Лыбидь, 1991. - ISSN 0235-2435.
   Вып. 4. - 1991. - 120 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.

Фролов А. И., Гусаров В. В.
   Теоретическая и экспериментальная оценка влияния вакуумных механизмов на загрязняемость изделий микроэлектроники / Фролов А. И., Гусаров В. В. // Проблемы автоматизации производства изделий электронной техники / ред. Волчкевич Л. И. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1987. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 488). - С. 82-90.

Фролов В. Я., Смородинов В. В.
   Устройства силовой электроники и преобразовательной техники с разомкнутыми и замкнутыми системами управления в среде MATLAB-Simulink : учебное пособие / Фролов В. Я., Смородинов В. В. - СПб. : Лань, 2017. - 329 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература) (Бакалавриат и магистратура). - Библиогр.: с. 328. - ISBN 978-5-8114-2583-9.

Фэн Лэй
   Исследование технологического процесса пайки бессвинцовыми припоями с целью повышения надёжности электронной аппаратуры : автореф. дис... ктн : 05. 11. 14 / Фэн Лэй ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2008. - 16 с.

Фэн Лэй
   Исследование технологического процесса пайки бессвинцовыми припоями с целью повышения надёжности электронной аппаратуры : дис... ктн : 05. 11. 14 / Фэн Лэй ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2008. - 108 л. - Библиогр.: л. 105-108.

Хабаров А. В.
   Способ объединения микрообъектов для увеличения чувствительности и пространственного разрешения сенсоров / Хабаров А. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 4. - С. 70-74.

Ханбеков И. Ф.
   Сокращение времени термовакуумной обработки магнетронов миллиметрового диапазона длин волн за счёт ультразвукового активирования диффузионных и десорбционных процессов : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Ханбеков И. Ф. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2021. - 161 л. : ил. - Библиогр.: л. 146-161.