Расширенный поиск

   Холловский ускоритель с фокусированным пучком для наноразмерной обработки крупногабаритных зеркал оптических телескопов / Воробьев Е. В., Духопельников Д. В., Ивахненко С. Г., Жуков А. В., Кириллов Д. В., Марахтанов М. К. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Машиностроение. - 2011. - Спец. вып. Ионно-плазменные технологии. - С. 35-41.

Шерстнев П. В., Шешин Е. П., Ламанов М. М.
   Метод экспресс-тренировки и испытаний для автоэмиссионных катодов, изготовленных из графитовой фольги / Шерстнев П. В., Шешин Е. П., Ламанов М. М. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 12. - С. 70-73.

Шешин Е. И., Никитин Н. Е.
   Термоэлектронная эмиссия : учебное пособие / Шешин Е. И., Никитин Н. Е. ; Моск. физико-техн. ин-т (гос. ун-т). - М. : Изд-во МФТИ, 2017. - 91 с. : ил. - Библиогр.: с. 91. - ISBN 978-5-7417-0637-4.

Шешин Е. П., Никитин Н. Е.
   Взрывная электронная эмиссия : учебное пособие для вузов / Шешин Е. П., Никитин Н. Е. ; Моск. физико-техн. ин-т (гос. ун-т). - М. : Изд-во МФТИ, 2017. - 70 с. : ил. - Библиогр.: с. 70. - ISBN 978-5-7417-0639-8.

Шибкова Л. В., Шибков В. М.
   Разряд в смесях инертных газов / Шибкова Л. В., Шибков В. М. - М. : Физматлит, 2005. - 198 с. - Библиогр.: с. 183-198. - ISBN 5-9221-1196-5.

Широкова Е. В., Степович М. А.
   Оценка использования новых матричных поправок в количественном рентгеноспектральном микроанализе / Широкова Е. В., Степович М. А. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2018. - № 4. - С. 96-100.

Щепанюк Т. С.
   Исследование радиационно-газодинамических процессов взаимодействия гиперзвуковых потоков излучающей плазмы с конденсированными и газовыми средами : 01. 04. 14 : дис... ктн / Щепанюк Т. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2006. - 144 л. - Библиогр.: л. 130-144.

Щепанюк Т. С.
   Исследование радиационно-газодинамических процессов взаимодействия гиперзвуковых потоков излучающей плазмы с конденсированными и газовыми средами : 01. 04. 14 : автореф. дис... ктн / Щепанюк Т. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2007. - 16 с.

Эгертон Р. Ф.
   Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию. / Эгертон Р. Ф. ; пер. с англ. Иванов С. А. - М. : Техносфера, 2010. - 300 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 221-222. - ISBN 978-5-94836-254-0.

   Электронная микроскопия тонких кристаллов / Хирш П., Хови А., Николсон Р. [и др.] ; ред. пер. с англ. Утевский Л. М. - М. : Мир, 1968. - 574 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.