Расширенный поиск

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
   Измерения параметров топографии поверхности и вольт-амперных характеристик тонкопленочных систем металл/синтетический опал/металл методом туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIII Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 22-24 апреля 2015г / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Ин-т проблем машиноведения, Ин-т проблем машиностроения, Ин-т машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, Ин-т физики РАН им. А. М. Прохорова, Моск. авиационный ин-т. - М., 2015. - С. 76-79.

Вайк А., Джиллиам Дж.
   JavaScript : полное руководство : пер. с англ. / Вайк А., Джиллиам Дж. ; ред. пер. Артеменко Ю. Н. ; пер. Корниенко Ю. И., Моргунов А. А., Шестаков С. А. - 4-е изд. - М. : Вильямс, 2004. - 719 с. : ил. - (Полное руководство). - ISBN 5-8459-0716-0.

Вайскопф Дж.
   Microsoft FrontPage 2000 : учебный курс / Вайскопф Дж. ; пер. с англ. Вихарев И., Тамбовский С. - СПб. : Питер, 2000. - 348 с. : ил. - (Учебный курс). - ISBN 5-272-00006-4.

Вайсфельд М.
   Объектно-ориентированный подход: Java,. Net, C++ : пер. с англ. / Вайсфельд М. - 2-е изд. - М. : Кудиц-Образ, 2005. - 366 с. - (Библиотека разработчика). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-9579-0045-1.

Вайц Е. В., Грачёва Ю. В.
   Разработка комплекса организационных и технических мероприятий по защите информации от утечки по техническим каналам на объекте информатизации : методические указания к выполнению курсовой работы / Вайц Е. В., Грачёва Ю. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2016. - 15 с. : ил. - Библиогр. в конце брош. - ISBN 978-5-7038-4556-1.

Вайц Е. В.
   Исследование защищенности видеоинтерфейса DVI от утечки по каналу побочных электромагнитных излучений / Вайц Е. В. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2011. - Спец. вып. Информационные технологии. - С. 19-26.

Вакка Дж.
   Безопасность интранет / Вакка Дж. ; пер. с англ. Филимонов Н., Ким С. ; ред. пер. Свиридова Е., Иванов Д. - М. : Бук Медиа Паблишер, 1998. - 458 с. - (Корпоративные сети). - ISBN 5-8070-0002-1.

Валеев А. Г.
   Графовая модель инженерных данных в генеративных нейронных сетях глубокого обучения = Graph model for Representation Engineering Data Via Generative Deep Learning Neural Networks / Валеев А. Г. // Наука, технологии и бизнес : материалы 6-ой Межвузовской конференции аспирантов, соискателей и молодых учёных, Москва, 16-18 апреля 2024 года / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М., 2024. - С. 53-59.

Валеева А. Ф.
   Применение конструктивных эвристик в задачах раскроя-упаковки / Валеева А. Ф. // Приложение к журналу "Информационные технологии". - 2006. - № 11. - С. 1-24.

   Валидация на системном уровне. Высокоуровневое моделирование и управление тестированием / Чэнь М., Цинь К., Ку Хеон-Мо, Мишра П. ; пер. с англ. Махиянова Е. Б. ; ред. пер. Ланцев А. Н. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2014. - 294 с. : ил. - (Мир радиоэлектроники). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-365-3.