Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
12771 запись
Вайсфельд М.
   Объектно-ориентированный подход: Java,. Net, C++ : пер. с англ. / Вайсфельд М. - 2-е изд. - Москва : Кудиц-Образ, 2005. - 366 с. - (Библиотека разработчика). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-9579-0045-1.
1 экз.
Вайц Е. В., Грачева Ю. В.
   Разработка комплекса организационных и технических мероприятий по защите информации от утечки по техническим каналам на объекте информатизации : методические указания к выполнению курсовой работы / Вайц Е. В., Грачева Ю. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2016. - 15 с. : ил. - Библиогр. в конце брош. - ISBN 978-5-7038-4556-1.
16 экз.
   Статья в журнале
Вайц Е. В.
   Исследование защищенности видеоинтерфейса DVI от утечки по каналу побочных электромагнитных излучений / Вайц Е. В. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2011. - Спец. вып. Информационные технологии. - С. 19-26.
Вакка Дж.
   Безопасность интранет / Вакка Дж. ; пер. с англ. Филимонов Н., Ким С. ; ред. пер. Свиридова Е., Иванов Д. - Москва : Бук Медиа Паблишер, 1998. - 458 с. - (Корпоративные сети). - ISBN 5-8070-0002-1.
1 экз.
   Аналитическое описание
Ваксман В. С., Костюк Н. В.
   О специфике постановки некоторых задач теории надежности / Ваксман В. С., Костюк Н. В. // Счетно-решающие приборы : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Доброгурский С. О. - М., 1964. - С. 96-110.
   Аналитическое описание
Валеев А. Г.
   Графовая модель инженерных данных в генеративных нейронных сетях глубокого обучения = Graph model for Representation Engineering Data Via Generative Deep Learning Neural Networks / Валеев А. Г. // Наука, технологии и бизнес : материалы 6-ой Межвузовской конференции аспирантов, соискателей и молодых учёных, Москва, 16-18 апреля 2024 года / МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2024. - С. 53-59.
   Статья в журнале
Валеева А. Ф.
   Применение конструктивных эвристик в задачах раскроя-упаковки / Валеева А. Ф. // Приложение к журналу "Информационные технологии". - 2006. - № 11. - С. 1-24.
   Валидация на системном уровне. Высокоуровневое моделирование и управление тестированием / Чэнь М., Цинь К., Ку Хеон-Мо, Мишра П. ; пер. с англ. Махиянова Е. Б. ; ред. пер. Ланцев А. Н. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2014. - 294 с. : ил. - (Мир радиоэлектроники). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-365-3.
1 экз.
Валиев К. А., Кокин А. А.
   Квантовые компьютеры: надежды и реальность / Валиев К. А., Кокин А. А. - Москва ; Ижевск : Изд-во Научно-издательского центра "Регулярная и хаотическая динамика", 2001. - 351 с. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-93972-024-2.
2 экз.
Валиев К. А., Кокин А. А.
   Квантовые компьютеры: надежды и реальность / Валиев К. А., Кокин А. А. - 2-е изд., испр. - Москва ; Ижевск : Регулярная и хаотическая динамика, 2002. - 319 с. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-93972-024-2.
2 экз.
Страница: ... 150 151 152 153 154 155 156 157 158 ...