Расширенный поиск

Колесова С. Я., Комкова Т. Ю.
   Снижение динамической загруженности скобы рабочей клети редукционного стана трубопрокатного агрегата ТПА 30-102 / Колесова С. Я., Комкова Т. Ю. // Будущее машиностроения России : сборник докладов 11-й Всерос. конф. молодых учёных и специалистов (с междунар. участием), Москва, 24-27 сентября 2018 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Союз машиностроителей России. - М., 2018. - С. 214-217.

Колешко В. М., Гулай А. В., Гулай В. А.
   Туннельные МДМ-наносенсоры: стратегии и технологии моделирования / Колешко В. М., Гулай А. В., Гулай В. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 9. - С. 46-52.

Колибернов Е. С., Корнев В. И., Сосков А. А.
   Справочник офицера инженерных войск / Колибернов Е. С., Корнев В. И., Сосков А. А. ; ред. Аганов С. Х. - Москва : Воениздат, 1989. - 432 с. : ил., табл. - ISBN 5-203-00133-2.

Колинько Т. А.
   Измерения в цифровых системах связи : практическое руководство / Колинько Т. А. - Киев : Век+ : НТИ, 2002. - 315 с. : ил. - ISBN 966-7140-24-5.

Колинько Т. А.
   Измерения в цифровых системах связи. Практическое руководство / Колинько Т. А. - Киев : Век+ : НТИ, 2013. - 315 с. : ил. - ISBN 978-966-7140-24-3.

Колистратов М. В., Шапошникова Л. А., Огнев М. А.
   Электротехника и электроника. Электротехника на оборудовании Lucas - Nulle : лабораторный практикум / Колистратов М. В., Шапошникова Л. А., Огнев М. А. ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Кафедра электротехники и микропроцессорной электроники ; ред. Дураджи В. Н. - Москва : Издательский дом МИСиС, 2012. - 54 с. : ил. - Библиогр.: с.53.

Колистратов М. В., Шапошникова Л. А.
   Электротехника и электроника. Электротехника на оборудовании National Instruments : лабораторный практикум / Колистратов М. В., Шапошникова Л. А. ; Министерство образования и науки Российской Федерации, Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", Кафедра электротехники и микропроцессорной электроники ; ред. Шамаро Л. А. - Москва : Издательский дом МИСиС, 2012. - 78 с. : ил. - Библиогр.: с.77.

   Количественная калибровка кантилевера магнитно-силового микроскопа с использованием проводов с током / Пурий А. В., Батурин А. С., Шешин Е. П., Шерстнёв П. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 7. - С. 70-74.

   Количественное обоснование единого индекса вреда : публикация № 45 МКРЗ : доклад международной комиссии по радиологической защите / пер. с англ. Карпов В. Б. ; ред. пер. Моисеев А. А., Рамзаев П. В. - Москва : Энергоатомиздат, 1989. - 87 с. : рис., табл. - Библиогр.: с.85-86. - ISBN 5-283-02964-6.

   Количественный структурно-энергетический анализ термической обработки конструкционной стали / Ким В. А., Петров В. В., Бутин А. В., Белова И. В., Шпилева А. А. // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2010. - № 4. - С. 24-26.