Расширенный поиск

Горелик С. С., Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н.
   Рентгенографический и электронно-оптический анализ : учебное пособие для вузов / Горелик С. С., Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н. - 4-е изд., перераб. и доп. - Москва : Изд-во МИСИС, 2002. - 357 с. : ил. - Библиогр.: с.357. - ISBN 5-87623-096-0.

Афанасьев А. М., Александров П. А., Имамов Р. М.
   Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев / Афанасьев А. М., Александров П. А., Имамов Р. М. - Москва : Наука, 1989. - 151 с. : рис., граф. - Библиогр.: с.146-151. - ISBN 5-02-014020-1.

Фетисов Г. В.
   Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ : учеб. пособие для вузов / Фетисов Г. В. ; ред. Асланов Л. А. - Москва : Физматлит, 2007. - 671 с. : ил. - (Фундаментальная и прикладная физика). - Библиогр.: с.636-663. - ISBN 978-5-9221-0805-8.

Анищик В. М., Гуманский Г. А.
   Структурный анализ. (Элементы теории, задачи, лабораторные работы) : [учеб. пособие] / Анищик В. М., Гуманский Г. А. - Минск : Изд-во БГУ им. В. И. Ленина, 1979. - 135 с. : ил. - Библиогр.: с.131. - Ксерокопия.

Жигалина О. М., Назаркин Р. М.
   Исследование материалов методами рентгеноструктурного анализа : учебно-методическое пособие / Жигалина О. М., Назаркин Р. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во УНЦ МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2023. - 114 с. : рис., табл. - Библиогр.: с.106. - ISBN 978-5-7038-6058-8.

Кристаллография: зарождение, рост и морфология кристаллов : учебник для вузов / Н. И. Леонюк, Е. В. Копорулина, Е. А. Волкова, В. В. Мальцев. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 152 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-04738-7.