182 записи
Диссертация
Зайцев К. И.
Метод исследования диэлектрических характеристик сильно поглощающих сред и биологических тканей в терагерцовой импульсной спектроскопии : дис... ктн : 05. 11. 07 / Зайцев К. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2016. - 164 л. : ил. - Библиогр.:л. 136-164 .
Метод исследования диэлектрических характеристик сильно поглощающих сред и биологических тканей в терагерцовой импульсной спектроскопии : дис... ктн : 05. 11. 07 / Зайцев К. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2016. - 164 л. : ил. - Библиогр.:
Субмиллиметровая диэлектрическая спектроскопия твёрдого тела : сборник статей / Академия наук СССР ; отв. ред. Козлов Г. В. - М. : Наука, 1990. - 221 с. : рис., табл. - (Труды / Институт общей физики ; т. 25). - Библиогр. в конце статей . - ISBN 5-02-000773-0 . - ISSN 0233-9390 .
Инфракрасная спектроскопия твердотельных систем пониженной размерности : учебное пособие / Ефимова А. И., Головань Л. А., Кашкаров П. К. [и др.] ; отв. ред. Спирина Т. С. - СПб. : Лань, 2017. - 246 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 233-246 . - ISBN 978-5-8114-2378-1 .
Оптика: инфракрасная фурье-спектрометрия : учебное пособие для вузов / Ефимова А. И., Зайцев В. Б., Болдырев Н. Ю., Кашкаров П. К. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2017. - 142 с. : ил. - (Авторский учебник). - Библиогр.: с. 141-142 . - ISBN 978-5-534-03812-5 .
Спектроскопия оксидных кристаллов для квантовой электроники / Академия наук СССР ; отв. ред. тома Осико В. В. - М. : Наука, 1991. - 142 с. - (Труды / Институт общей физики ; т. 29). - Библиогр. в конце статей . - ISBN 5-02-000770-6 .
Нелинейно-оптическая спектроскопия оптических фононов и поляритонов : сборник статей / Российская академия наук ; отв. ред. тома Поливанов Ю. Н. - М. : Наука, 1993. - 123 с. : ил. - (Труды / Институт общей физики ; т. 43). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 5-02-006852-7 .
Киреев С. В., Шнырев С. Л.
Современные методы оптической спектроскопии технологических сред : учебное пособие для вузов / Киреев С. В., Шнырев С. Л. ; Нац. исслед. ядерный ун-т "МИФИ". - 2-е изд. - М. : Юрайт, 2019. - 147 с. : ил. - (Программа "Университеты России"). - Библиогр.:с. 133-147 . - ISBN 978-5-534-11020-3 .
Современные методы оптической спектроскопии технологических сред : учебное пособие для вузов / Киреев С. В., Шнырев С. Л. ; Нац. исслед. ядерный ун-т "МИФИ". - 2-е изд. - М. : Юрайт, 2019. - 147 с. : ил. - (Программа "Университеты России"). - Библиогр.:
Оптика: инфракрасная фурье-спектрометрия : учебное пособие для вузов / Ефимова А. И., Зайцев В. Б., Болдырев Н. Ю., Кашкаров П. К. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - 142 с. : ил. - (Авторский учебник). - Библиогр.: с. 141-142 . - ISBN 978-5-534-09143-4 .
Бёккер Ю.
Спектроскопия : монографии / Бёккер Ю. ; пер. с нем. Казанцева Л. Н. ; ред. пер. Пупышев А. А., Полякова М. В. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2021. - 527 с. : ил. - (Мир химии). - Библиогр.:с. 507-522 . - ISBN 978-5-94836-220-5 .
Спектроскопия : монографии / Бёккер Ю. ; пер. с нем. Казанцева Л. Н. ; ред. пер. Пупышев А. А., Полякова М. В. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2021. - 527 с. : ил. - (Мир химии). - Библиогр.: