Расширенный поиск

   Учет диссипативных процессов в низкоразмерных структурах при моделировании функциональных характеристик устройств наноэлектроники / Шашурин В. Д., Ветрова Н. А., Назаров В. В., Руденко Н. Р., Куимов Е. В. // Нанотехнологии. Разработка. Применение. ХХ1 век. - 2018. - Т. 10, № 1. - С. 40-46.

Ушаков И. А.
   Вероятностные модели надёжности информационно вычислительных систем / Ушаков И. А. - М. : Радио и связь, 1991. - 132 с. : рис. - Библиогр.: с. 130-131. - ISBN 5-256-00795-5.

Шубинский И. Б.
   Надежные отказоустойчивые информационные системы. Методы синтеза / Шубинский И. Б. - Ульяновск : ООО "Журнал "Надежность", 2016. - 544 с. : ил. - Библиогр.: с. 526-538. - ISBN 978-5-7572-0399-7.

Шубинский И. Б.
   Структурная надежность информационных систем. Методы анализа / Шубинский И. Б. - Ульяновск : ООО "Журнал "Надежность", 2012. - 213 с. : ил. - Библиогр.: с. 210-213. - ISBN 978-5-7572-0326-3.

Шубинский И. Б.
   Функциональная надежность информационных систем. Методы анализа / Шубинский И. Б. - Ульяновск : ООО "Журнал "Надежность", 2012. - 295 с. : ил. - Библиогр.: с. 286-292. - ISBN 978-5-7572-0327-0.