388 записей
Аналоговые и цифро-аналоговые микросхемы фирмы "Mitsubishi Electric". - Б.м. : ДОДЭКА, 2000. - 47 с. - (Библиотека электронных компонентов ; вып. 17). - ISBN 5-94020-007-9 .
Андреев В. В., Жалнин В. П., Столяров А. А.
Физические основы микро-и наноэлектроники : учебное пособие / Андреев В. В., Жалнин В. П., Столяров А. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2023. - 292 с. : ил. - (Библиотека "Приборостроение" ; т. 3). - Библиогр.:с. 285-288 . - ISBN 978-5-7038-6098-4 . - ISBN 978-5-7038-6042-7 (т. 3).
Физические основы микро-и наноэлектроники : учебное пособие / Андреев В. В., Жалнин В. П., Столяров А. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2023. - 292 с. : ил. - (Библиотека "Приборостроение" ; т. 3). - Библиогр.:
Андреев В. В., Кашин В. В., Ежова М. М.
Технологические процессы микроэлектроники : методические указания / Андреев В. В., Кашин В. В., Ежова М. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2014. - 54 с. : ил. - Библиогр.:с. 52 . - ISBN 978-5-7038-3892-1 .
Технологические процессы микроэлектроники : методические указания / Андреев В. В., Кашин В. В., Ежова М. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2014. - 54 с. : ил. - Библиогр.:
Андреев В. В., Столяров А. А.
Физические основы наноинженерии : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Андреев В. В., Столяров А. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 223 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 16). - Библиогр.:с. 219-220 . - ISBN 978-5-7038-3507-4 .
Физические основы наноинженерии : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Андреев В. В., Столяров А. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 223 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 16). - Библиогр.:
Андроник М. М.
Метод синтеза базовых технологических процессов микроэлектромеханических систем на основе конструктивно-технологической онтологии : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Андроник М. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2021. - 16 с. : ил.
Метод синтеза базовых технологических процессов микроэлектромеханических систем на основе конструктивно-технологической онтологии : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : автореф. дис... ктн / Андроник М. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2021. - 16 с. : ил.
Андроник М. М.
Метод синтеза базовых технологических процессов микроэлектромеханических систем на основе конструктивно-технологической онтологии : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Андроник М. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2021. - 183 л. : ил. - Библиогр.:л. 157-175 .
Метод синтеза базовых технологических процессов микроэлектромеханических систем на основе конструктивно-технологической онтологии : 05. 27. 06-Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники : дис... ктн / Андроник М. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2021. - 183 л. : ил. - Библиогр.:
Диссертация
Аникин А. В.
Технологическое обеспечение показателей качества пластин-подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : 05. 11. 14 : дис... ктн / Аникин А. В. ; Моск. гос. открытый ун-т. - М., 2006. - 279 л. - Библиогр.:л. 222-232 .
Технологическое обеспечение показателей качества пластин-подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : 05. 11. 14 : дис... ктн / Аникин А. В. ; Моск. гос. открытый ун-т. - М., 2006. - 279 л. - Библиогр.:
Автореферат диссертации
Аникин А. В.
Технологическое обеспечение показателей качества пластин-подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : 05. 11. 14 : автореф. дис... ктн / Аникин А. В. ; Моск. гос. открытый ун-т. - М., 2006. - 16 с.
Технологическое обеспечение показателей качества пластин-подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : 05. 11. 14 : автореф. дис... ктн / Аникин А. В. ; Моск. гос. открытый ун-т. - М., 2006. - 16 с.
Анищенко Л. М., Лавренюк С. Ю., Петрухин В. В.
Автоматизированное проектирование и моделирование технологических процессов микроэлектроники / Анищенко Л. М., Лавренюк С. Ю., Петрухин В. В. - М. : Радио и связь, 1995. - 175 с. : ил. - Библиогр.:с. 171-175 . - ISBN 5-256-00577-4 .
Автоматизированное проектирование и моделирование технологических процессов микроэлектроники / Анищенко Л. М., Лавренюк С. Ю., Петрухин В. В. - М. : Радио и связь, 1995. - 175 с. : ил. - Библиогр.:
Атаев Д. И., Болотников В. А.
Аналоговые интегральные микросхемы для бытовой радиоаппаратуры : справочник / Атаев Д. И., Болотников В. А. - М. : Изд-во МЭИ, 1991. - 237 с. : ил. - Библиогр.в конце кн. - ISBN 5-7046-0028-X .
Аналоговые интегральные микросхемы для бытовой радиоаппаратуры : справочник / Атаев Д. И., Болотников В. А. - М. : Изд-во МЭИ, 1991. - 237 с. : ил. - Библиогр.