Расширенный поиск

   Субмикронная электроннозондовая диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. темы Степанович М. А. - М., 2003. - 96 л. - Библиогр.: л. 89-97. - Шифр ОК-ФН3-02Ф. - Инв. № 02.20.0302542.

Таиров Ю. М., Цветков В. Ф.
   Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов : учебник для вузов / Таиров Ю. М., Цветков В. Ф. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Высшая школа, 1990. - 422 с. : рис., граф. - Библиогр.: с. 418. - ISBN 5-06-001032-5.

Таиров Ю. М., Цветков В. Ф.
   Технология полупроводниковых и диэлектрических приборов : учебник для вузов / Таиров Ю. М., Цветков В. Ф. - 3-е изд., стер. - СПб. : Лань, 2002. - 422 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 418. - На обл. заглавие: Технология полупроводниковых и диэлектрических материалов. - ISBN 5-8114-0438-7.

Тареев Б. М.
   Электротехнические материалы : учеб. пособие / Тареев Б. М. - 5-е изд., перераб. - М. ; Л. : Госэнергоиздат, 1955. - 256 с. - Библиогр.: с. 252-253.

   Твёрдые растворы элементарных полупроводников и полупроводниковых соединений / ред. Горелик С. С. - М. : Металлургия, 1974. - 206 с. : ил. - (Труды / Московский институт стали и сплавов (МИСиС) ; № 83). - Библиогр. в конце статей.

   Теоретический анализ движения проводов расщепленной фазы воздушных линий ультравысокого напряжения и повышенной пропускной способности (ВЛ УВН и ППС) при воздействии ветра и искусств. возбуждении колебаний : Выполн. согласно межвуз. целевой прогр. "Экономия электроэнергии" : кн. 1: Исслед. поведения... : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ, Каф. прикл. математики ; рук. темы Ванько В. И. - М., 1990. - 120 с. - Шифр Тема ОМЗ-87. - ГР 01870096946. - Инв. № 02.9.10048905.

   Термодинамика и материаловедение полупроводников : [монография] / Новоселова А. В., Глазов В. М., Смирнова Н. А. [и др.] ; ред. Глазов В. М. - М. : Металлургия, 1992. - 390 с. : ил. - Библиогр.: с. 356-390. - ISBN 5-229-00512-2.

   Термостимулированная релаксация как метод исследования широкозонных полупроводников (обзор) / Адонин А. С., Бейсюк П. П., Бурачек В. Р. [и др.]. - М. : Техника-Про, 2000. - 95 с. : ил. - (Физика полупроводников. Электроника XXI века). - Библиогр.: с. 92-95. - ISBN 5-8376-0015-9.

   Технология материалов микро- и наноэлектроники / Кожитов Л. В., Косушкин В. Г., Крапухин В. В., Пархоменко Ю. Н. ; Моск. гос. ин-т стали и сплавов (Технологический ун-т). - М. : МИСиС, 2007. - 542 с. : ил. - (Металлургия и материаловедение XXI века). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-87623-132-7.

   Технология материалов микро- и наноэлектроники : [монография] / Кожитов Л. В., Емельянов С. Г., Косушкин В. Г. [и др.] ; Юго-Западный гос. ун-т. - 2-е изд., перераб. и испр. - Курск, 2012. - 860 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-7681-0760-4.