Расширенный поиск

   Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3 т. / Московский государственный институт электронной техники (Технологический центр) ; ред. Бхушан Б. ; ред. пер. с англ. Сауров А. Н. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2010. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-261-8.
   Т. III. - 2010. - 831 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-264-9.

   Справочник Шпрингера по нанотехнологиям : в 3 т. / Московский государственный институт электронной техники (Технологический центр) ; ред. Бхушан Б. ; ред. пер. с англ. Сауров А. Н. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2010. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 978-5-94836-261-8.
   Т. II. - 2010. - 1039 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-263-2.

   Сравнение результатов измерения магнитного поля трещины феррозондовыми приборами с расчетами по модели постоянной плотности магнитного заряда / Векслер А. З., Гусев Б. В., Шанаурин А. М., Щербинин В. Е. // Дефектоскопия. - 2008. - № 1. - С. 69-74.

   Сравнение СВЧ-диагностики с другими методами неразрушающего контроля композиционных изделий / Бугаев А. С., Ивашов С. И., Разевиг В. В., Чиж М. А. // Успехи современной радиоэлектроники. - 2020. - Т. 74, № 4-5. - С. 19-38.

Старостин В. В.
   Материалы и методы нанотехнологии : учебное пособие / Старостин В. В. ; общ. ред. Патрикеев Л. Н. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2008. - 431 с. : ил. - (Нанотехнология). - Библиогр.: с.424-426. - ISBN 978-5-94774-727-0.

Старостин В. В.
   Материалы и методы нанотехнологий : учебное пособие / Старостин В. В. ; общ. ред. Патрикеев Л. Н. - 2-е изд. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010. - 431 с. : ил. - (Нанотехнологии). - Библиогр.: с.424-426. - ISBN 978-5-9963-0346-5.

Старостин В. В.
   Материалы и методы нанотехнологий : учебное пособие / Старостин В. В. ; общ. ред. Патрикеев Л. Н. - 2-е изд. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012. - 431 с. : ил. - (Нанотехнологии). - Библиогр.: с.424-426. - ISBN 978-5-9963-0346-5.

Старостин В. В.
   Материалы и методы нанотехнологий : учебное пособие / Старостин В. В. ; общ. ред. Патрикеев Л. Н. - 2-е изд. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. - 431 с. : ил. - (Нанотехнологии). - Библиогр.: с.424-426. - ISBN 978-5-9963-0346-5.

   Статистическая оценка результатов расшифровки радиографических снимков сварных соединений / Алешин Н. П., Галкин Д. И., Колесников О. И., Сорокин А. С. // Сварка и диагностика. - 2015. - № 1. - С. 11-14.

   Статистические закономерности малоциклового разрушения / Махутов Н. А., Зацаренный В. В., Базарас Ж. Л. [и др.] ; Академия наук СССР, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова ; отв. ред. Махутов Н. А., Романов А. Н. - Москва : Наука, 1989. - 251 с. : рис., граф. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-02-007162-5.