Расширенный поиск

   Формирование наноразмерных супрамолекулярных агрегатов в растворах цистеина и нитрата серебра / Комаров П. В., СанниковИ. П., Хижняк С. Д., Овчинников М. М., Пахомов П. М. // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 11-12. - С. 130-135.

   Фотоэлектрический колориметр и его применение в химическом анализе / ред. Березовская Ф. И., Тартаковский И. С. ; сост. Давыдов А. Л. ; Днепропетровский гос. ун-т. - Днепропетровск, 1941. - 28 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце брош.

Фридман В. Г.
   Свет и материя. (Общедоступный очерк спектрального анализа) / Фридман В. Г. - 2-е изд., знач. доп. - М. : Московский рабочий, 1924. - 234 с.

   Характеристики платформы для активной виброизоляции на основе магнитореологических эластомеров / Михайлов В. П., Товмаченко Д. К., Базиненков А. М., Степанов Г. В. // Известия ВУЗов. Сер. "Машиностроение". - 2016. - № 12. - С. 51-57.

Харитонов Ю. Я.
   Аналитическая химия (аналитика) : учебник для вузов : в 2 кн. / Харитонов Ю. Я. - М. : Высшая школа, 2001. - ISBN 5-06-003966-8.
   Кн. 1 : Общие теоретические основы. Качественный анализ. - 2001. - 614 с. - Библиогр.: с. 593-594. - ISBN 5-06-003835-1.

Харитонов Ю. Я.
   Аналитическая химия (аналитика) : учебник для вузов : в 2 кн. / Харитонов Ю. Я. - М. : Высшая школа, 2001. - ISBN 5-06-003966-8.
   Кн. 2 : Количественный анализ. Физико-химические ( инструментальные) методы анализа. - 2001. - 558 с. - Библиогр.: с. 534-535. - ISBN 5-06-003965-X.

Хенке Х.
   Жидкостная хроматография / Хенке Х. ; пер. с нем. Киреева Н. Е. ; ред. пер. Демин А. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2009. - 263 с. : ил. - (Мир химии). - Библиогр.: с. 220-223. - ISBN 978-5-94836-198-7.

   Хроматографические методы анализа : практикум / Слитиков П. В., Горячева В. Н., Макарова М. П., Медных Ж. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2019. - 61 с. : рис., табл. - Библиогр.: c. 60. - ISBN 978-5-7038-5138-8.

Цепулин В. Г.
   Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : автореф. дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 16 с.

Цепулин В. Г.
   Высокоскоростной спектрофотометрический метод измерения толщин многослойных пленочных структур : дис... ктн : 05. 11. 07 / Цепулин В. Г. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2019. - 167 л. : ил. - Библиогр.: л. 158-167.