Расширенный поиск

   100 лет хроматографии / РАН. Ин-т физической химии ; отв. ред. Руденко Б. А. - М. : Наука, 2003. - 738 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 5-02-006394-0.

   Структура тонкопленочных фотоэлектродных нанокомпозитов на основе матрицы из поли- n-ксилена / Завьялов С. А., Схоунман Й., Голубева Е. Н., Лобанов А. В., Пивкина А. Н., Гайнутдинов Р. В. // Российские нанотехнологии. - 2007. - Т. 2, № 3-4. - С. 101-108.

Суворов С. В.
   Систематические погрешности абсорбционного газоанализатора при измерении малых концентраций / Суворов С. В. // Приборы. - 2015. - № 5. - С. 4-13.

Суворов С. В.
   Случайные погрешности абсорбционного газоанализатора при измерении малых концентраций / Суворов С. В. // Приборы. - 2015. - № 4. - С. 44-51.

Схунмакерс П.
   Оптимизация селективности в хроматографии / Схунмакерс П. ; пер. с англ. Родионов А. В. ; ред. пер. Лаванков В. А. - М. : Мир, 1989. - 399 с. : граф. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-03-001033-5.

Сычев К. С.
   Правильная эксплуатация ВЭЖХ оборудования и колонок / Сычев К. С. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2020. - 155 с. : ил. - (Мир химии). - ISBN 978-5-94836-584-8.

Сычев К. С.
   Практическое руководство по жидкостной хроматографии / Сычев К. С. ; ред. Курганов А. А. - М. : Техносфера, 2010. - 270 с. : ил. - (Мир химии). - ISBN 978-5-94836-238-0.

Телдеши Ю., Клер Э.
   Ядерные методы химического анализа окружающей среды / Телдеши Ю., Клер Э. ; пер. с англ. Родин С. С. ; ред. пер. Мясоедов Б. Ф. - М. : Химия, 1991. - 186 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-7245-0415-4.

   Тепловое воздействие электронного зонда при рентгеноспектральном наноанализе / Амрастанов А. Н., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Серегина Е. В., Степович М. А., Тодуа П. А. // Измерительная техника. - 2017. - № 6. - С. 13-15.

Терещенко А. Г., Пикула Н. П., Толстихина Т. В.
   Внутрилабораторный контроль качества результатов анализа с использованием лабораторной информационной системы : учебное пособие / Терещенко А. Г., Пикула Н. П., Толстихина Т. В. ; Томский политехнический университет. - Томск : Изд-во Томского политехнического университета, 2006. - 210 с. - Библиогр.: с. 209-210.