Расширенный поиск

Обухов И. В., Лось Л. А.
   Развитие модельного мышления в лабораторном практикуме по метрологии / Обухов И. В., Лось Л. А. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIV Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана,18-20 апреля 2017 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, Институт проблем машиностроения РАН, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН. - М., 2017. - С. 313-315.

Обухов И. В.
   Случайные погрешности измерений : [учебное пособие] / Обухов И. В. ; Московский государственный открытый университет. - Москва : URSS : ЛИБРОКОМ, 2012. - 76 с. - Библиогр. в конце кн. - ISBN 978-5-397-02420-4.

   Определение погрешности прямых и косвенных измерений длин методом непосредственной оценки : метод. указания к лабораторной работе №1 - ПМ по дисциплине "Прикладная метрология" / Полярус Н. Т., Королев Ю. С., Разгулин В. Г., Янушкин В. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2004. - 26 с. : ил. - Библиогр. в конце брош. - ISBN 5-7038-2489-3.

   Основные термины в области метрологии : словарь-справочник : содержит более 400 терминов / Юдин М. Ф., Селиванов М. Н., Тищенко О. Ф., Скороходов А. И. ; ред. Тарбеев Ю. В. - Москва : Изд-во стандартов, 1989. - 112 с. : ил. - Библиогр. в конце кн. - ISBN 5-7050-003-0034-0.

   Основы стандартизации, метрологии, сертификации : конспект лекций / авт.-сост. Басаков М. И. - Ростов-на-Дону : Феникс, 2002. - 190 с. - (Зачет и экзамен). - Библиогр.: с.187-188. - ISBN 5-222-02771-6.

Павкина Т. В.
   Модернизация измерительного микроскопа Carl Zeiss Т. М.1243 / Павкина Т. В. // Состояние и проблемы измерений. : сборник материалов XII Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана,04-06 февраля 2013 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, РАН, Институт проблем машиноведения, Московский авиац. ин-т (МАИ). - М., 2013. - С. 76-77.

Пелевин В. Ф.
   Метрология и средства измерений : учебное пособие для студентов по техническим и технологическим спец. / Пелевин В. Ф. - Москва : ИНФРА-М ; Минск : Новое знание, 2015. - 272 с. : ил. - (Высшее образование. Бакалавриат). - Библиогр.: с.271-272. - ISBN 978-5-16-006769-8. - ISBN 978-985-475-560-1.

Петросян О. Г.
   Анализ и прогнозирование метрологических характеристик измерительного комплекса / Петросян О. Г. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2005. - № 2. - С. 49-56.

Пиотровский Я.
   Теория измерений для инженеров / Пиотровский Я. ; ред. пер. Овсянников Р. Н. ; пер. с пол. Левицкий Л. В. - Москва : Мир, 1989. - 335 с. : рис., граф. - Библиогр.: с.321-329. - ISBN 5-03-001085-8.

Плуталов В. Н., Иванина И. В.
   Статистический контроль качества продукции по количественному признаку : методические указания к лабораторной работе №30 по дисциплине "Метрология, взаимозаменяемость, стандартизация и сертификация" / Плуталов В. Н., Иванина И. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Плуталов В. Н. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2004. - 19 с. : ил. - Библиогр. в конце брош. - ISBN 5-7038-2457-5.