Расширенный поиск

Захаров М. Н., Медовщиков А. В.
   Экспериментальное моделирование контактного разрушения деталей приводной долбежной головки / Захаров М. Н., Медовщиков А. В. // Вестник машиностроения. - 2024. - Т. 103, № 8. - С. 623-627.

Зацепин А. Ф.
   Акустические измерения : учебное пособие для вузов / Зацепин А. Ф. ; ред. Щербина В. Е. ; Уральский федеральный ун-т имени первого Президента России Б. Н. Ельцина. - М. : Юрайт ; Екатеринбург : Изд-во Уральского ун-та, 2017. - 209 с. : ил. - (Программа "Университеты России"). - Библиогр.: с. 198. - ISBN 978-5-534-02903-1. - ISBN 978-5-7996-1818-6.

Зацепин А. Ф., Бирюков Д. Ю.
   Методы и средства измерений и контроля: дефектоскопы : учебное пособие для вузов / Зацепин А. Ф., Бирюков Д. Ю. ; Уральский федеральный ун-т имени первого Президента России Б. Н. Ельцина. - М. : Юрайт, 2019. - 120 с. - (Программа "Университеты России"). - Библиогр.: с. 115-117. - ISBN 978-5-534-08496-2.

Зимин В. Н., Неровный Н. А.
   К расчету роторного солнечного паруса / Зимин В. Н., Неровный Н. А. // Известия РАН. Сер. "Механика твердого тела". - 2017. - № 2. - С. 93-99.

Золотарев С. А., Венгринович В. Л.
   Итерационная параллельная реконструкция изображений для промышленной томографии / Золотарев С. А., Венгринович В. Л. // Дефектоскопия. - 2009. - № 6. - С. 3-12.

Золотаревский С. Ю.
   Метрологическое обеспечение параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : [учебное пособие] / Золотаревский С. Ю. ; ред. Киселев М. И. - М. : Университетская книга, 2016. - 197 с. : ил. - Библиогр.: с. 186-197. - ISBN 978-5-98699-198-6.

Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : автореф. дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всерос. НИИ метрологической службы. - М., 2015. - 32 с. : ил.

Золотаревский С. Ю.
   Обеспечение единства измерений геометрических параметров шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения : дис... дтн : 05. 11. 15 / Золотаревский С. Ю. ; Всерос. НИИ метрологической службы. - М., 2015. - 328 л. : ил. - Библиогр.: л. 299-321.

Зуев В. М., Иванов В. И., Капустин В. И.
   Классификация дефектов при ультразвуковом и радиографическом контроле / Зуев В. М., Иванов В. И., Капустин В. И. // Дефектоскопия. - 2006. - № 5. - С. 51-62.

Зуев В. М.
   Контроль структуры металла при рентгенографии сварных соединений / Зуев В. М. // Дефектоскопия. - 2006. - № 3. - С. 84-90.