Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
661 запись
   Статья
Лобанов Л. М., Пивторак В. А.
   Диагностика сварных конструкций методами электронной ширографии и спекл-интерферометрии / Лобанов Л. М., Пивторак В. А. // Автоматическая сварка. - 2008. - № 11. - С. 195-203.
   Статья
Лоскутов В. Е.
   Магнитный трубный дефектоскоп ДМТП / Лоскутов В. Е. // Дефектоскопия. - 2008. - № 4. - С. 78-86.
   Статья
Лунин В. П.
   Двухшаговый алгоритм конечно-элементного решения задач электромагнитного контроля. Вихретоковый контроль / Лунин В. П. // Дефектоскопия. - 2006. - № 12. - С. 62-69.
   Статья
Лунин В. П.
   Двухшаговый алгоритм конечно-элементного решения задач электромагнитного контроля. Электроемкостный контроль / Лунин В. П. // Дефектоскопия. - 2006. - № 12. - С. 52-61.
   Статья
Лунин В. П., Жданов А. Г., Лазуткин Д. Ю.
   Нейросетевой классификатор дефектов для многочастотоного вихретокового контроля теплообменных труб / Лунин В. П., Жданов А. Г., Лазуткин Д. Ю. // Дефектоскопия. - 2007. - № 3. - С. 37-45.
   Статья
Лунин В. П.
   Феноменологические и алгоритмические методы решения обратных задач электромагнитного контроля / Лунин В. П. // Дефектоскопия. - 2006. - № 6. - С. 3-16.
   Статья
Лухвин А. А., Булатов О. В.
   Возможности магнитодинамического метода контроля толщины двухслойных покрытий / Лухвин А. А., Булатов О. В. // Дефектоскопия. - 2008. - № 10. - С. 26-34.
   Статья
Лухвич А. А., Булатов О. В.
   Возможности магнитодинамического метода контроля толщины никелевых покрытий на основаниях с разными магнитными свойствами / Лухвич А. А., Булатов О. В. // Дефектоскопия. - 2010. - № 10. - С. 75-81.
   Статья
Лухвич А. А., Полоневич А. А., Чурило В. Р.
   Расчет магнитных систем диагностических и очистных поршней газо-и нефтепроводов / Лухвич А. А., Полоневич А. А., Чурило В. Р. // Дефектоскопия. - 2006. - № 1. - С. 26-36.
   Статья
   Магнитная толщинометрия слабомагнитных мелкодисперсных покрытий / Лухвич А. А., Лукьянов А. Л., Калошин В. А., Шукевич А. К. // Дефектоскопия. - 2008. - № 10. - С. 35-42.
Страница: ... 31 32 33 34 35 36 37 38 39 ...