Расширенный поиск

   Применение резонансно-туннельных нанодиодов для повышения эффективности преобразователя электромагнитной энергии инвазивных биосенсорных систем на базе технологии радиочастотной идентификации / Иванов Ю. А., Гудков А. Г., Мешков С. А., Шашурин В. Д., Клевцов В. А., Агасиева С. В., Синякин В. Ю. // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2014. - Т. 19, № 4. - С. 60-65.

   Проблемы микроэлектроники : сборник статей / Академия наук СССР, Физико-технологический институт ; отв. ред. тома Рыжий В. И. - М. : Наука, 1991. - 92 с. : рис., табл. - (Труды / Физико-технологический институт АН (ФТИАН) ; т. 1). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-006816-0.

   Проблемы микроэлектронной технологии : сборник статей / Российская Акадамия наук ; отв. ред. тома Великов Л. В. - М. : Наука, 1992. - 97 с. : рис., табл. - (Труды / Физико-технологический институт АН (ФТИАН) ; т. 4). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-006868-3.

   Проблемы микроэлектронной технологии : сборник статей / Российская Акадамия наук ; отв. ред. Великов Л. В. - М. : Наука, 1994. - 75 с. : ил. - (Труды / Физико-технологический институт АН (ФТИАН) ; т. 7). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-007019-X.

   Проблемы обеспечения надежности смесителей СВЧ / Ветрова Н. А., Гудков А. Г., Назаров В. В., Шашурин В. Д. // Машиностроитель. - 2012. - № 8. - С. 19-26.

   Проблемы физической электроники-91 : сборник научных трудов / Академия наук СССР, Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе, Ленинградский государственный технический университет ; отв. ред. Петров Н. П. - Л., 1991. - 166 с. : рис. - Библиогр. в конце статей.

   Проведение исследования влияния температуры и ионизирующего излучения на самоорганизацию фрактальных структур нано- и мезоскопического уровня в полупроводниковых слоях / Вьюгинов В. Н., Попов В. В., Шашурин В. Д., Шмидт Н. М., Видякин С. И., Чижиков С. В. // Машиностроитель. - 2017. - № 1. - С. 37-44.

   Проведение исследования влияния температуры и ионизирующего излучения на самоорганизацию фрактальных структур нано- и мезоскопического уровня в полупроводниковых слоях. Ч. 2 / Вьюгинов В. Н., Маркин А. В., Видякин С. И., Шмидт Н. М., Агасиева С. В. // Машиностроитель. - 2017. - № 2. - С. 30-42.

   Прогнозирование качества и надёжности ГИС и МИС СВЧ на этапах разработки и производства Часть 26. МИС широкополосного аттенюатора СВЧ / Волков В. В., Вьюгинов В. Н., Гудков А. Г., Добров В. А., Зыбин А. А., Петров П. А., Попов В. В., Савин А. М. // Машиностроитель. - 2012. - № 3. - С. 34-35.

   Прогнозирование качества и надёжности ГИС и МИС СВЧ на этапах разработки и производства Часть 24. Защитные устройства СВЧ миллиметрового диапазона частот / Гудков А. Г., Кирилов А. В., Попов В. В., Романов Л. Г., Смирнов В. А. // Машиностроитель. - 2012. - № 1. - С. 6-14.