Расширенный поиск

Пресс Ф. П.
   Фоточувствительные приборы с зарядовой связью / Пресс Ф. П. - Москва : Радио и связь, 1991. - 261 с. : рис., граф. - Библиогр.: с.253-260. - ISBN 5-256-00855-2.

   Применение резонансно-туннельных нанодиодов для повышения эффективности преобразователя электромагнитной энергии инвазивных биосенсорных систем на базе технологии радиочастотной идентификации / Иванов Ю. А., Гудков А. Г., Мешков С. А., Шашурин В. Д., Клевцов В. А., Агасиева С. В., Синякин В. Ю. // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2014. - Т. 19, № 4. - С. 60-65.

   Проблемы использования достижений микроэлектроники в хронометрии : сб. науч. тр. / Научно-исследовательский ин-т часовой пром-сти (НИИЧаспром). - Москва, 1988. - 135 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце ст. - ISSN 0130-4615.

   Проблемы микроэлектроники : сборник статей / Академия наук СССР, Физико-технологический институт ; отв. ред. тома Рыжий В. И. - Москва : Наука, 1991. - 92 с. : рис., табл. - (Труды / Физико-технологический институт АН (ФТИАН) ; т. 1). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-006816-0.

   Проблемы микроэлектронной технологии : сборник статей / Российская академия наук ; отв. ред. тома Великов Л. В. - Москва : Наука, 1992. - 97 с. : рис., табл. - (Труды / Физико-технологический институт АН (ФТИАН) ; т. 4). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-006868-3.

   Проблемы микроэлектронной технологии : сборник статей / Российская академия наук ; отв. ред. Великов Л. В. - Москва : Наука, 1994. - 75 с. : ил. - (Труды / Физико-технологический институт АН (ФТИАН) ; т. 7). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-007019-X.

   Проблемы обеспечения надежности смесителей СВЧ / Ветрова Н. А., Гудков А. Г., Назаров В. В., Шашурин В. Д. // Машиностроитель. - 2012. - № 8. - С. 19-26.

   Проблемы физической электроники-91 : сборник научных трудов / Академия наук СССР, Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе, Ленинградский гос. техн. ун-т ; отв. ред. Петров Н. П. - Ленинград, 1991. - 166 с. : рис. - Библиогр. в конце статей.

   Проведение исследования влияния температуры и ионизирующего излучения на самоорганизацию фрактальных структур нано- и мезоскопического уровня в полупроводниковых слоях / Вьюгинов В. Н., Попов В. В., Шашурин В. Д., Шмидт Н. М., Видякин С. И., Чижиков С. В. // Машиностроитель. - 2017. - № 1. - С. 37-44.

   Проведение исследования влияния температуры и ионизирующего излучения на самоорганизацию фрактальных структур нано- и мезоскопического уровня в полупроводниковых слоях. Ч.2 / Вьюгинов В. Н., Маркин А. В., Видякин С. И., Шмидт Н. М., Агасиева С. В. // Машиностроитель. - 2017. - № 2. - С. 30-42.