Расширенный поиск

   Кинетические и оптические явления в сильных электрических полях в полупроводниках и наноструктурах : учебное пособие для вузов / Воробьев Л. Е., Данилов С. Н., Ивченко Е. Л. [и др.] ; общ. ред. Ильин В. И., Шик А. Я. - СПб. : Наука, 2000. - 157 с. прил. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр.: с. 156. - ISBN 5-02-024928-9.

   Термостимулированная релаксация как метод исследования широкозонных полупроводников (обзор) / Адонин А. С., Бейсюк П. П., Бурачек В. Р. [и др.]. - М. : Техника-Про, 2000. - 95 с. : ил. - (Физика полупроводников. Электроника XXI века). - Библиогр.: с. 92-95. - ISBN 5-8376-0015-9.

   Технология конструкционных материалов : учебник для вузов / Дальский А. М., Арутюнова И. А., Барсукова Т. М., Бухаркин Л. Н. ; общ. ред. Дальский А. М. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Машиностроение, 1985. - 447 с. : ил.

   Технология конструкционных материалов : учебник для вузов / Дальский А. М., Барсукова Т. М., Бухаркин Л. Н. [и др.] ; общ. ред. Дальский А. М. - 5-е изд., испр. - М. : Машиностроение, 2003. - 511 с. : ил. - ISBN 5-217-03198-0.

Никифоров В. М.
   Технология металлов и других конструкционных материалов : учебник для техникумов и колледжей / Никифоров В. М. - 8-е изд., перераб. и доп. - СПб. : Политехника, 2000. - 381 с. : ил. - (Учебник для техникумов и колледжей). - ISBN 5-7325-0519-9.

   Разработка методов субмикронной катодолюминесцентной диагностики прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. НИР Степанович М. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2002. - 77 л. - Библиогр.: л. 76-77. - Шифр ОК-ФН3-01Ф. - Инв. № 02.200.204171.

   Технология конструкционных материалов : учебник для вузов / Дальский А. М., Барсукова Т. М., Бухаркин Л. Н. [и др.] ; общ. ред. Дальский А. М. - 4-е изд., перераб. и доп. - М. : Машиностроение, 2002. - 511 с. - Библиогр.: с. 502. - ISBN 5-217-03146-8.

Вернер А. К., Курбатова И. А., Парфеновская О. А.
   Технология конструкционных материалов : краткий курс лекций / Вернер А. К., Курбатова И. А., Парфеновская О. А. ; Моск. гос. индустриальный ун-т, Ин-т дистанционного образования. - М. : Изд-во моск. гос. индустриального ун-та, 2002. - 135 с. - Библиогр.: с. 135. - ISBN 5-256-00251-7.

   Субмикронная электроннозондовая диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. темы Степанович М. А. - М., 2003. - 96 л. - Библиогр.: л. 89-97. - Шифр ОК-ФН3-02Ф. - Инв. № 02.20.0302542.

   Субмикронная катодолюминесцентная диагностика прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники : отчёт о НИР (заключительный) / МГТУ им. Н. Э. Баумана, Калужский филиал ; рук. НИР Степович М. А. - М., 2001. - 69 л. - Библиогр.: л. 65-69. - Шифр ОК-ФН3-00Ф. - ГР 01200002393. - Инв. № 02.2.00104557.