63919 записей
Аналитическое описание
Быков А. П., Медвецкий С. В., Дорошенко С. А.
О соотношении масс в безотказных системах / Быков А. П., Медвецкий С. В., Дорошенко С. А. // Оборонная техника : ежемесячный научно-технический сборник / Научно-технический центр "Информтехника". - 2019. - № 3-4. -С. 16-21 .
О соотношении масс в безотказных системах / Быков А. П., Медвецкий С. В., Дорошенко С. А. // Оборонная техника : ежемесячный научно-технический сборник / Научно-технический центр "Информтехника". - 2019. - № 3-4. -
Аналитическое описание
Быков Б. З.
Влияние параметров наладки и настройки оптических станков на распределение средней относительной скорости / Быков Б. З. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Лазарев Л. П. - М., 1964. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 114). -С. 181-191 .
Влияние параметров наладки и настройки оптических станков на распределение средней относительной скорости / Быков Б. З. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Лазарев Л. П. - М., 1964. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 114). -
Статья в сборнике трудов
Быков Б. З., Дворников А. Л., Семибратов М. Н.
Методика расчета кинематических показателей при шлифовании и полировании сферических поверхностей / Быков Б. З., Дворников А. Л., Семибратов М. Н. // Оптические и оптико-электронные приборы : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Лазарев Л. П. - М., 1962. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 110). -С. 27-39 .
Методика расчета кинематических показателей при шлифовании и полировании сферических поверхностей / Быков Б. З., Дворников А. Л., Семибратов М. Н. // Оптические и оптико-электронные приборы : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Лазарев Л. П. - М., 1962. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 110). -
Аналитическое описание
Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А.
Автоматизированная обработка и контроль оптических поверхностей / Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А. // Расчёт и проектирование оптико-электронных приборов : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1979. - Вып. 12 / ред. Лазарев Л. П. -С. 50-59 .
Автоматизированная обработка и контроль оптических поверхностей / Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А. // Расчёт и проектирование оптико-электронных приборов : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1979. - Вып. 12 / ред. Лазарев Л. П. -
Аналитическое описание
Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А.
Автоматизированное управление доводкой крупногабаритных оптических деталей / Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Лазарев Л. П. - М., 1981. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 368). -С. 62-68 .
Автоматизированное управление доводкой крупногабаритных оптических деталей / Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Лазарев Л. П. - М., 1981. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 368). -
Аналитическое описание
Быков Б. З.
Зависимость между коэффициентами покрытия сферической и плоской поверхностей / Быков Б. З. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Семибратов М. Н. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -С. 25-34 .
Зависимость между коэффициентами покрытия сферической и плоской поверхностей / Быков Б. З. // Технология производства оптико-электронных приборов : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; ред. Семибратов М. Н. - М., 1972. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 155). -
Аналитическое описание
Быков Б. З., Перов В. А., Сальников Ю. В.
Контроль параметров оптических деталей / Быков Б. З., Перов В. А., Сальников Ю. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П., Мосягин Г. М. - М., 1989. - (Труды / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; № 536). -С. 110-124 .
Контроль параметров оптических деталей / Быков Б. З., Перов В. А., Сальников Ю. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П., Мосягин Г. М. - М., 1989. - (Труды / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; № 536). -
Статья в журнале
Быков В. А., Васильев В. Н., Голубок А. О.
Учебно-исследовательская минилаборатория по нанотехнологии на базе сканирующего зондового микроскопа "Наноэдьюкатор" / Быков В. А., Васильев В. Н., Голубок А. О. // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, т. 5-6. -С. 51-58 .
Учебно-исследовательская минилаборатория по нанотехнологии на базе сканирующего зондового микроскопа "Наноэдьюкатор" / Быков В. А., Васильев В. Н., Голубок А. О. // Российские нанотехнологии. - 2009. - Т. 4, т. 5-6. -
Быков В. В., Быков В. П.
Исследовательское проектирование в машиностроении / Быков В. В., Быков В. П. - М. : Машиностроение, 2011. - 255 с. : ил. - Библиогр.:с.253-255 . - ISBN 978-5-94275-587-4 .
Исследовательское проектирование в машиностроении / Быков В. В., Быков В. П. - М. : Машиностроение, 2011. - 255 с. : ил. - Библиогр.:
Быков В. В., Васильева К. В., Голубев М. И.
Взаимозаменяемость и нормирование точности соединений деталей и сборочных единиц : учеб. пособие / Быков В. В., Васильева К. В., Голубев М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2026. - 175 с. : рис., табл. - Библиогр.:с.143 . - ISBN 978-5-7038-6725-9 .
Взаимозаменяемость и нормирование точности соединений деталей и сборочных единиц : учеб. пособие / Быков В. В., Васильева К. В., Голубев М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2026. - 175 с. : рис., табл. - Библиогр.:
