Расширенный поиск

Виноградов А. Л., Коломиец О. М., Федоров С. Ю.
   Лазерный датчик положения на основе БИС относительных перемещений / Виноградов А. Л., Коломиец О. М., Федоров С. Ю. // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2007. - № 7. - С. 43-46.

Вишняков Г. Н., Минаев В. Л., Самойленко А. А.
   Государственный первичный специальный эталон единицы комплексного показателя преломления и единицы длины в области измерений толщины оптических покрытий ГЭТ 203-2024 / Вишняков Г. Н., Минаев В. Л., Самойленко А. А. // Измерительная техника. - 2024. - № 6. - С. 4-11.

Вишняков Г. Н., Минаев В. Л., Самойленко А. А.
   Метрологическое обеспечение средств измерений толщины оптических покрытий / Вишняков Г. Н., Минаев В. Л., Самойленко А. А. // ХОЛОЭКСПО 2024: : тезисы докладов 21-ой Международной конференции по голографии и прикладным оптическим технологиям, Казань, 9-13 сентября 2024 года / Общества ограниченной ответственности "Холоэкспо наука и практика". - М., 2024. - С. 139-144.

Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А.
   Оптическая микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 181 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 12). - Библиогр.: с. 147-152. - ISBN 978-5-7038-3503-6.

Власов А. И., Елсуков К. А., Панфилов Ю. В.
   Методы микроскопии : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Панфилов Ю. В. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 278 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 1). - Библиогр.: с. 272-275. - ISBN 978-5-7038-3492-3.

Власов Н. Г., Одиноков С. Б., Тимашова Л. Н.
   Получение радужных голограмм при смещении объекта в процессе экспонирования / Власов Н. Г., Одиноков С. Б., Тимашова Л. Н. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1981. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 368). - С. 153-160.

   Влияние дискретизации изображения на характеристики приемной системы с оптико-механическим сканированием / Долотин Ю. Г., Колючкин В. Я., Мосягин Г. М., Рязанов В. Н. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1977. - Вып. 10. - С. 20-29.

   Влияние размеров светового пятна на чувствительность позиционных материалов / Дроздов М. М., Карасик В. Е., Рыбальский В. В., Суетина Н. В., Шикуть А. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1974. - Вып. 8. - С. 34-37.

Волков А. Е., Семчуков М. Н.
   Новые устройства для изготовления оптических деталей / Волков А. Е., Семчуков М. Н. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1976. - Вып. 9. - С. 59-63.

Волков В. Г., Гиндин П. Д.
   Техническое зрение. Инновации : [учеб. пособие] / Волков В. Г., Гиндин П. Д. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2014. - 836 с. : ил. - Библиогр. в конце разделов. - ISBN 978-5-94836-403-2.