134 записи
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Уэйли Жу, Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 582 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9963-1110-1 .
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : [монография] / Андерхальт Р., Анзалоне П., Апкариан П. Р. [и др.] ; ред. Жу У., Жонг Лин Уанг ; пер. с англ. Иванов С. А., Домкин К. И. ; ред. пер. Каминская Т. П. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018. - 582 с., [8] л. ил. : ил. - Библиогр. в конце глав . - ISBN 978-5-9963-1110-1 .
Статья
Расчет температуры композиционного электрода в нормальном тлеющем разряде / Кристя В. И., Прасицкий В. В., Прасицкий Г. В., Чжо Зай // Электромагнитные волны и электронные системы. - 2016. - Т. 21, № 8. - С. 59-63 .
Статья
Расчет электромагнитного поля плоского индуктора установки плазмохимического травления / Сагателян Г. Р., Грачев И. Ю., Бугорков К. Н., Федоркова Н. В. // Нанотехнологии. Разработка. Применение. ХХ1 век. - 2020. - Т. 12, № 1. - С. 29-42 .
Савинов В. П.
Физика высокочастотного емкостного разряда : [монография] / Савинов В. П. - М. : Физматлит, 2013. - 307 с. : ил. - Библиогр.:с. 297-307 . - ISBN 978-5-9221-1551-3 .
Физика высокочастотного емкостного разряда : [монография] / Савинов В. П. - М. : Физматлит, 2013. - 307 с. : ил. - Библиогр.:
Статья
Савичкин Д. О., Кристя В. И.
Моделирование методом Монте-Карло энергетических спектров ионов и быстрых атомов у поверхности электрода в слаботочном разряде в смеси аргона с парами ртути / Савичкин Д. О., Кристя В. И. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2019. - № 2. -С. 107 - 112 .
Моделирование методом Монте-Карло энергетических спектров ионов и быстрых атомов у поверхности электрода в слаботочном разряде в смеси аргона с парами ртути / Савичкин Д. О., Кристя В. И. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2019. - № 2. -
Савичкин Д. О.
Моделирование взаимодействия низкотемпературной плазмы газового разряда в смеси аргон - пары ртути и электрода с диэлектрической пленкой на поверхности : автореф. дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Савичкин Д. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. (Нац. исслед. ун-т). - М., 2019. - 16 с. : ил.
Моделирование взаимодействия низкотемпературной плазмы газового разряда в смеси аргон - пары ртути и электрода с диэлектрической пленкой на поверхности : автореф. дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Савичкин Д. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. (Нац. исслед. ун-т). - М., 2019. - 16 с. : ил.
Савичкин Д. О.
Моделирование взаимодействия низкотемпературной плазмы газового разряда в смеси аргон - пары ртути и электрода с диэлектрической пленкой на поверхности : дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Савичкин Д. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. (Нац. исслед. ун-т). - М., 2019. - 119 л. : ил. - Библиогр.:л. 105-119 .
Моделирование взаимодействия низкотемпературной плазмы газового разряда в смеси аргон - пары ртути и электрода с диэлектрической пленкой на поверхности : дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Савичкин Д. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. (Нац. исслед. ун-т). - М., 2019. - 119 л. : ил. - Библиогр.:
Семенов А. П.
Техника распыления ионными пучками / Семенов А. П. ; РАН. СО. Бурятский научный центр, Институт естественных наук ; отв. ред. Ломухин Ю. Л. - Улан-Удэ : Изд-во БНЦ СО РАН, 1996. - 118 с. - Библиогр.:с. 106-118 . - ISBN 5-7623-1110-4 .
Техника распыления ионными пучками / Семенов А. П. ; РАН. СО. Бурятский научный центр, Институт естественных наук ; отв. ред. Ломухин Ю. Л. - Улан-Удэ : Изд-во БНЦ СО РАН, 1996. - 118 с. - Библиогр.:
Синдо Д., Оикава Т.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : пер. с англ. / Синдо Д., Оикава Т. ; пер. Иванов С. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.в конце гл. - ISBN 5-94836-064-4 .
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : пер. с англ. / Синдо Д., Оикава Т. ; пер. Иванов С. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.