2525 записей
Статья
Композиционные защитные покрытия на поверхности стали / Гнеденков С. В., Хрисанфова О. А., Синебрюхов С. Л., Пузь А. В. // Коррозия: материалы, защита. - 2007. - № 11. - С. 27-33 .
Композиционные материалы : справочник / Васильев В. В., Протасов В. Д., Болотин В. В. [и др.] ; общ. ред. Васильев В. В., Тарнопольский Ю. М. - М. : Машиностроение, 1990. - 510 с. : ил. - Библиогр. в конце глав . - ISBN 5-217-01113-0 .
Композиционные материалы волокнистого строения / Ван Фо Фы Г. А., Грошева В. М., Дебновецкая Е. Н. [и др.] ; ред. Францевич И. Н., Карпинос Д. М. ; АН УССР, Институт проблем материаловедения, Институт механики. - Киев : Наукова думка, 1970. - 402 с. - Библиогр. в конце гл.
Статья
Композиционные полимерсодержащие защитные слои на титане / Гнеденков С. В., Синебрюхов С. Л., Машталяр Д. В., Егоркин В. С., Цветников А. К., Минаев А. Н. // Коррозия: материалы, защита. - 2007. - № 7. - С. 37-42 .
Статья
Компьютерная оптимизация параметров контактной стыковой сварки оплавлением магистральных трубопроводов / Журавлев С. И., Коновалов Н. А., Ерофеев В. А., Полосков С. И. // Сварка и диагностика. - 2014. - № 1. - С. 10-15 .
Статья
Компьютерная панорамная томография промышленного применения / Жуков Ю. А., Карлов Ю. К., Обидин Ю. В., Петухов К. В., Поташников А. К., Сартаков В. Ю., Чащин С. Б. // Бюллетень международных договоров. - 2008. - № 9. - С. 27-37 .
Статья
Компьютерная технология определения чувствительности рентгенографического контроля по изображению канавочного эталона / Воробель Р. А., Опыр Н. В., Бернык З. А., Берегуляк О. Р. // Дефектоскопия. - 2009. - № 5. - С. 81-89 .
Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б.
Измерения параметров топографии поверхности при помощи сканирующего зондового микроскопа SOLVER P47 : метод. указания к лаб. работе по курсу "Физические основы измерений", "Квантовая метрология" / Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во НИИ РЛ МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. - 36 с. : ил. - Библиогр.:с. 36 .
Измерения параметров топографии поверхности при помощи сканирующего зондового микроскопа SOLVER P47 : метод. указания к лаб. работе по курсу "Физические основы измерений", "Квантовая метрология" / Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во НИИ РЛ МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. - 36 с. : ил. - Библиогр.:
Кондаков А. И., Васильев А. С.
Обоснование выбора материалов при технической подготовке производства деталей машин : учеб. пособие для вузов по направлению 150400 "Технологические машины и оборудование" специальности 150401 "Проектирование технических и технологических комплексов" / Кондаков А. И., Васильев А. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2008. - 167 с. : ил. - Библиогр.в конце брош. - ISBN 978-5-7038-3121-2 .
Обоснование выбора материалов при технической подготовке производства деталей машин : учеб. пособие для вузов по направлению 150400 "Технологические машины и оборудование" специальности 150401 "Проектирование технических и технологических комплексов" / Кондаков А. И., Васильев А. С. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2008. - 167 с. : ил. - Библиогр.