Расширенный поиск

   Методы исследования свойств жидких металлов и полупроводников. - 1989. - 384 с.

Вудраф Д., Делчар Т.
   Современные методы исследования поверхности : [монография] / Вудраф Д., Делчар Т. ; пер. с англ. Шек Е. Ф. ; ред. пер. Раховский В. И. - М. : Мир, 1989. - 568 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 545-555. - ISBN 5-03-001129-3.

Никитенков Н. Н.
   Технология конструкционных материалов. Анализ поверхности методами атомной физики : учебное пособие для бакалавриата и магистратуры / Никитенков Н. Н. ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет. - М. : Юрайт, 2016. - 202 с. : ил. - (Программа "Университеты России"). - ISBN 978-5-9916-6528-5.

Суворов, Э. В.  Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов : учебник для вузов / Э. В. Суворов. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 180 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-06011-9.

Игнатенков, В. И.  Общая химическая технология: теория, примеры, задачи : учебник для вузов / В. И. Игнатенков. — 2-е изд. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 195 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-09222-6.

Комиссаров, Ю. А.  Процессы и аппараты химической технологии : учебник для вузов / Ю. А. Комиссаров, Л. С. Гордеев, Д. П. Вент. — 2-е изд., перераб. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2026. — 1242 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-534-19103-5.