Расширенный поиск

Миронов В. Л.
   Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН. Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2004. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2.

Миронов В. Л.
   Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН, Ин-т физики микроструктур. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2005. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2.

Егорова О. В.
   Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей / Егорова О. В. - 2-е изд., перераб. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2007. - 357 с., [9] л. ил. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 355-357. - ISBN 978-5-94836-129-1.

   Нормы точности и методы поверки круглого стола к универсальному микроскопу. - [Б. м.], [1940]. - 21 л. : ил. - Содерж.: Нормы точности и методы поверки круглого стола к универсальному микроскопу; Нормы точности и методы поверки оптической делительной головки; Нормы точности и методы поверки ультра-оптиметра.

Свищев Г. М.
   Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки / Свищев Г. М. - М. : Физматлит, 2011. - 120 с. : ил. - Библиогр.: с. 117-120. - ISBN 978-5-9221-1320-5.

Феофанов А. В.
   Основы оптической микроскопии : учебно-методический комплекс для бакалавров / Феофанов А. В. - М. : НОУДПО "Институт АйТи", 2011. - 159 с. : ил. - ISBN 978-5-98453-041-5.

Михель К.
   Основы теории микроскопа / Михель К. ; пер. с нем. Лейкин М. В. ; ред. пер. Слюсарев Г. Г. - М. : Гос. изд-во технико-теорет. лит., 1955. - 274 с., [5] л. табл. : ил.

Иванова Т. А., Кирилловский В. К.
   Проектирование и контроль оптики микроскопов / Иванова Т. А., Кирилловский В. К. - Л. : Машиностроение, 1984. - 230 с. - Библиогр.: с. 226-229.

Карпухин С. Д., Быков Ю. А.
   Световая микроскопия и количественная обработка изображений структур материалов : учебное пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003. - 48 с. ил. - Библиогр.: с. 48. - ISBN 5-7038-2352-8.

Миронов В. Л.
   Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН, Институт физики микроструктур г. Нижний Новгород. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2013. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 978-5-94836-236-6.