7 записей
Миронов В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН. Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2004. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:с. 140-143 . - ISBN 5-94836-034-2 .
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН. Ин-т физики микроструктур. - М. : Техносфера, 2004. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:
Миронов В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН, Ин-т физики микроструктур. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2005. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:с. 140-143 . - ISBN 5-94836-034-2 .
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН, Ин-т физики микроструктур. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2005. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:
Феофанов А. В.
Основы оптической микроскопии : учебно-методический комплекс для бакалавров / Феофанов А. В. - М. : НОУДПО "Институт АйТи", 2011. - 159 с. : ил. -ISBN 978-5-98453-041-5 .
Основы оптической микроскопии : учебно-методический комплекс для бакалавров / Феофанов А. В. - М. : НОУДПО "Институт АйТи", 2011. - 159 с. : ил. -
Карпухин С. Д., Быков Ю. А.
Световая микроскопия и количественная обработка изображений структур материалов : учебное пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003. - 48 с. ил. - Библиогр.:с. 48 . - ISBN 5-7038-2352-8 .
Световая микроскопия и количественная обработка изображений структур материалов : учебное пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003. - 48 с. ил. - Библиогр.:
Миронов В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН, Институт физики микроструктур г. Нижний Новгород. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2013. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:с. 140-143 . - ISBN 978-5-94836-236-6 .
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН, Институт физики микроструктур г. Нижний Новгород. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2013. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:
Власов А. И., Елсуков К. А., Панфилов Ю. В.
Методы микроскопии : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Панфилов Ю. В. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 278 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 1). - Библиогр.:с. 272-275 . - ISBN 978-5-7038-3492-3 .
Методы микроскопии : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Панфилов Ю. В. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 278 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 1). - Библиогр.:
Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А.
Оптическая микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 181 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 12). - Библиогр.:с. 147-152 . - ISBN 978-5-7038-3503-6 .
Оптическая микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 181 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 12). - Библиогр.: