4 записи
Диссертация
Литвак Ю. Н.
Повышение точности расположения отверстий многослойных печатных плат при сверлении микроразмерным инструментом с твердосмазочным покрытием : дис... ктн : 05. 27. 06 / Литвак Ю. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - 132 л. : ил. - Библиогр.:л. 125-132 .
Повышение точности расположения отверстий многослойных печатных плат при сверлении микроразмерным инструментом с твердосмазочным покрытием : дис... ктн : 05. 27. 06 / Литвак Ю. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - 132 л. : ил. - Библиогр.:
Автореферат диссертации
Литвак Ю. Н.
Повышение точности расположения отверстий многослойных печатных плат при сверлении микроразмерным инструментом с твердосмазочным покрытием : автореф. дис... ктн : 05. 27. 06 / Литвак Ю. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - 16 с.
Повышение точности расположения отверстий многослойных печатных плат при сверлении микроразмерным инструментом с твердосмазочным покрытием : автореф. дис... ктн : 05. 27. 06 / Литвак Ю. Н. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - 16 с.
Тун Лин Аунг
Разработка и исследование позиционирующей системы для микросверления глухих отверстий многослойных печатных плат : дис... ктн : 05. 27. 06 / Тун Лин Аунг ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М., 2021. - 115 л. : ил. - Библиогр.:л. 107-225 .
Разработка и исследование позиционирующей системы для микросверления глухих отверстий многослойных печатных плат : дис... ктн : 05. 27. 06 / Тун Лин Аунг ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М., 2021. - 115 л. : ил. - Библиогр.:
Тун Лин Аунг
Разработка и исследование позиционирующей системы для микросверления глухих отверстий многослойных печатных плат : автореф. дис... ктн : 05. 27. 06 / Тун Лин Аунг ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М., 2021. - 16 с. : ил.
Разработка и исследование позиционирующей системы для микросверления глухих отверстий многослойных печатных плат : автореф. дис... ктн : 05. 27. 06 / Тун Лин Аунг ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М., 2021. - 16 с. : ил.