Расширенный поиск

   Валидация на системном уровне. Высокоуровневое моделирование и управление тестированием / Чэнь М., Цинь К., Ку Хеон-Мо, Мишра П. ; пер. с англ. Махиянова Е. Б. ; ред. пер. Ланцев А. Н. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2014. - 294 с. : ил. - (Мир радиоэлектроники). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-365-3.