Расширенный поиск

Рид С. Дж. Б.
   Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Рид С. Дж. Б. ; пер. с англ. Петрова Д. Б., Романенко И. М., Ревенко В. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2008. - 229 с., [8] с. фот. : ил. - (Мир наук о земле). - ISBN 978-5-94836-177-2.

Рид С.
   Электронно-зондовый микроанализ : пер. с англ. / Рид С. ; пер. Козленков А. И. - М. : Мир, 1979. - 423 с. : рис. - Библиогр.: с. 401-411.

   Тепловое воздействие электронного зонда при рентгеноспектральном наноанализе / Амрастанов А. Н., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Серегина Е. В., Степович М. А., Тодуа П. А. // Измерительная техника. - 2017. - № 6. - С. 13-15.

Широкова Е. В.
   Моделирование процессов возбуждения рентгеновского излучения при взаимодействии киловольтных электронов с конденсированным веществом : автореф. дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Широкова Е. В. ; Калужский гос. ун-т им. К. Э. Циолковского. - Калуга, 2016. - 16 с.

Широкова Е. В.
   Моделирование процессов возбуждения рентгеновского излучения при взаимодействии киловольтных электронов с конденсированным веществом : дис... кф-мн : 01. 04. 07 / Широкова Е. В. ; Калужский гос. ун-т им. К. Э. Циолковского. - Калуга, 2016. - 116 л. - Библиогр.: л. 97-113.