Личный кабинет
2 записи
Рид С. Дж. Б.
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Рид С. Дж. Б. ; пер. с англ. Петрова Д. Б., Романенко И. М., Ревенко В. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2008. - 229 с., [8] с. фот. : ил. - (Мир наук о земле). -ISBN 978-5-94836-177-2 .
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Рид С. Дж. Б. ; пер. с англ. Петрова Д. Б., Романенко И. М., Ревенко В. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2008. - 229 с., [8] с. фот. : ил. - (Мир наук о земле). -
1 экз.
Рид С.
Электронно-зондовый микроанализ : пер. с англ. / Рид С. ; пер. Козленков А. И. - М. : Мир, 1979. - 423 с. : рис. - Библиогр.:с. 401-411 .
Электронно-зондовый микроанализ : пер. с англ. / Рид С. ; пер. Козленков А. И. - М. : Мир, 1979. - 423 с. : рис. - Библиогр.:
3 экз.
