Личный кабинет
7 записей
Статья
Баттулга Э., Сидняев Н. И.
Метод эквивалентно-циклических испытаний высокотехнологического оборудования на надежность / Баттулга Э., Сидняев Н. И. // Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы 7-ой Всероссийской научно-практической конференции, Москва, 17 апреля 2024 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т) ; науч. ред. Старожук Е. А., Ляхович Д. Г. - М., 2024. -С. 19-23 .
Метод эквивалентно-циклических испытаний высокотехнологического оборудования на надежность / Баттулга Э., Сидняев Н. И. // Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы 7-ой Всероссийской научно-практической конференции, Москва, 17 апреля 2024 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т) ; науч. ред. Старожук Е. А., Ляхович Д. Г. - М., 2024. -
Статья
Баттулга Э., Сидняев Н. И.
Стратегия поиска в пространстве состояний системы управления жизненным циклом / Баттулга Э., Сидняев Н. И. // Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы 7-ой Всероссийской научно-практической конференции, Москва, 17 апреля 2024 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т) ; науч. ред. Старожук Е. А., Ляхович Д. Г. - М., 2024. -С. 24-28 .
Стратегия поиска в пространстве состояний системы управления жизненным циклом / Баттулга Э., Сидняев Н. И. // Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы 7-ой Всероссийской научно-практической конференции, Москва, 17 апреля 2024 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т) ; науч. ред. Старожук Е. А., Ляхович Д. Г. - М., 2024. -
Статья
Дамм В. А., Шалагинов В. А.
Модель канала утечки информации за счет паразитной модуляции, возникающей при работе криптографических средств / Дамм В. А., Шалагинов В. А. // Вопросы защиты информации. - 2007. - № 4. -С. 22-27 .
Модель канала утечки информации за счет паразитной модуляции, возникающей при работе криптографических средств / Дамм В. А., Шалагинов В. А. // Вопросы защиты информации. - 2007. - № 4. -
Статья
Знаменская Т. Д.
Вопрсы надежности датчико-преобразующей аппаратуры для ракетно-космической техники / Знаменская Т. Д. // Лесной вестник. - 2019. - Т. 23, № 1. -С. 125-133 .
Вопрсы надежности датчико-преобразующей аппаратуры для ракетно-космической техники / Знаменская Т. Д. // Лесной вестник. - 2019. - Т. 23, № 1. -
Статья
Кабак Е. Е., Сидняев Н. И.
Технология повышения надежности при сертификации на различных этапах / Кабак Е. Е., Сидняев Н. И. // Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы 2-ой Всероссийской научно-практической конференции, Москва, 23 апреля 2019 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М., 2019. -С. 72-78 .
Технология повышения надежности при сертификации на различных этапах / Кабак Е. Е., Сидняев Н. И. // Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы 2-ой Всероссийской научно-практической конференции, Москва, 23 апреля 2019 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М., 2019. -
Статья
Марин В. П., Гродзенский Я. С., Садковская Н. Е.
Статистическое регулирование технологических процессов при контроле параметров экспоненциального распределения / Марин В. П., Гродзенский Я. С., Садковская Н. Е. // Наукоемкие технологии. - 2010. - Т. 11, № 7. -С. 73-76 .
Статистическое регулирование технологических процессов при контроле параметров экспоненциального распределения / Марин В. П., Гродзенский Я. С., Садковская Н. Е. // Наукоемкие технологии. - 2010. - Т. 11, № 7. -
Статья
Методология оценки надежности космических аппаратов при проектной и конструкторской проработке / Геча В. Я., Барбул Р. Н., Сидняев Н. И., Бутенко Ю. И. // Надежность. - 2019. - Т. 19, № 2. - С. 3-8 .
