Методы и метрологическое обеспечение механических испытаний нано- и микромасштабных объектов, материалов и изделий нанотехнологий / Гольдштейн Р. В., Ченцов А. В., Кадушников Р. М., Штуркин Н. А. // Российские нанотехнологии. - 2008. - Т. 3, № 1-2. - С. 114-124.
Используя сайт Библиотеки МГТУ им. Н. Э. Баумана,
Вы соглашаетесь с использованием файлов cookie и сервисов сбора и анализа статистики посещений
для обеспечения работоспособности сайта и улучшения качества обслуживания.
Подробнее о файлах cookie.