Расширенный поиск

   Бортовой инфракрасный Фурье-спектрометр ИКФС-2: лётные испытания и первые измерения спектров атмосферы / Головин Ю. М., Завелевич Ф. С., Козлов Д. А., Козлов И. А., Монахов Д. О., Никулин А. Г., Ушаков Н. Н., Архипов С. А., Целиков В. А., Романовский А. С., Поляков А. В., Тимофеев Ю. М. // Космонавтика и ракетостроение. - 2015. - № 6. - С. 51-58.

Бронштейн Ю. Л.
   Геометрия и юстировка крупных зеркальных систем / Бронштейн Ю. Л. - М. : ДПК Пресс, 2020. - 818 с. : ил. - Библиогр.: с. 799-818. - ISBN 978-5-91976-154-9.

Бронштейн Ю. Л.
   Крупногабаритные зеркальные системы (контроль геометрии, юстировка) / Бронштейн Ю. Л. - М. : ДПК Пресс, 2013. - 479 с. : ил. - Библиогр.: с. 473-479. - ISBN 978-5-91976-038-2.

Бронштейн Ю. Л.
   Крупногабаритные зеркальные системы (контроль геометрии, юстировка) / Бронштейн Ю. Л. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Изд-во ДПК Пресс, 2015. - 597 с. : ил. - Библиогр.: с. 588-598.

Бурков В. Д., Иванов Г. А.
   Научные основы создания устройств и систем волоконно-оптической техники : монография / Бурков В. Д., Иванов Г. А. ; Моск. гос. ун-т леса. - М. : Изд-во Моск. гос. ун-та леса, 2008. - 332 с. : ил. - Библиогр.: с. 321-326.

Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А.
   Автоматизированная обработка и контроль оптических поверхностей / Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А. // Расчёт и проектирование оптико-электронных приборов : сборник статей / МВТУ им. Н. Э. Баумана. - 1979. - Вып. 12 / ред. Лазарев Л. П. - С. 50-59.

Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А.
   Автоматизированное управление доводкой крупногабаритных оптических деталей / Быков Б. З., Ефремов А. А., Рукавишников А. А. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П. ; МВТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1981. - (Труды / МВТУ им. Н. Э. Баумана ; № 368). - С. 62-68.

Быков Б. З., Перов В. А., Сальников Ю. В.
   Контроль параметров оптических деталей / Быков Б. З., Перов В. А., Сальников Ю. В. // Оптико-электронные приборы : сборник статей / ред. Лазарев Л. П., Мосягин Г. М. - М., 1989. - (Труды / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; № 536). - С. 110-124.

Вагулина Е. В., Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б.
   Исследование многослойных структур на основе опаловых пленой методом сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники). XX Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике. XXVII Междунар. симпозиума. Наноинженерия. VII Междунар. научно-техн. конф. : сборник научных трудов / ред. Белянин А. Ф., Панфилов Ю. В., Самойлович М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - С. 252-256.

Васильев Л. А., Ершов И. В.
   Интерферометр с дифракционной решеткой / Васильев Л. А., Ершов И. В. - М. : Машиностроение, 1976. - 231 с. : ил. - Библиогр.: с. 226-230.