Подробное описание документа

Брандон Д., Каплан У.
   Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие для вузов : пер. с англ. / Брандон Д., Каплан У. ; ред. пер. Баженов С. Л. ; доп. Егорова О. В. - М. : Техносфера, 2004. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-018-0.

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения.
Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехно- логиями.

УДК

620.22 Материалы. Материаловедение

Предметные рубрики

• Материалы - Учебники и пособия

Общее кол-во в фондах

3 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
3. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
4. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313

Похожие издания

Брандон Д., Каплан У.
   Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие для вузов : пер. с англ. / Брандон Д., Каплан У. ; ред. пер. Баженов С. Л. ; доп. Егорова О. В. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-018-0.

Кол-во в фондах 6 экз.

подробнее