Подробное описание документа
Статья
Бутывская М. В.
Ультразвуковая микроскопия как возможный инструмент контроля качества соединения пластин в процессе изготовления структур "кремний на изоляторе" / Бутывская М. В., Петронюк Ю. С. // Нано- и микросистемная техника. - 2006. - № 8. -
621.382 Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника
Статья опубликована в следующих изданиях
с. 12-15
Журнал
Нано- и микросистемная техника.
№ 8. - 2006.
№ 8. - 2006.