Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

Бутывская М. В., Петронюк Ю. С.
   Ультразвуковая микроскопия как возможный инструмент контроля качества соединения пластин в процессе изготовления структур "кремний на изоляторе" / Бутывская М. В., Петронюк Ю. С. // Нано- и микросистемная техника. - 2006. - № 8. - С. 12-15.

621.382 Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 12-15
   Журнал
   Нано- и микросистемная техника.
   № 8. - 2006.