Подробное описание документа

   Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств. - 1989. - 159 с.

УДК

621.3.049.77 Микроэлектроника. Интегральные схемы

Предметная рубрика

• Интегральные схемы - Надежность - Термодинамические исследования

Общее кол-во в фондах

4 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

Заявка на закупку

1. Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
3. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313