Подробное описание документа

Воробьев В. Л.
   Термодинамические основы диагностики и надёжности микроэлектронных устройств : монография / Воробьев В. Л. - М. : Наука, 1989. - 159 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 155-157. - ISBN 5-02-006639-7.

В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надёжности микроэлектронных устройств. Разработаны термодинамические модели надёжности. Сформулирована методология и рассмотрены термодинамические методы интегральной диагностики. Показаны возможности и способы управления качеством и надёжностью. Разработана система термодинамических методов индивидуальной и групповой оценки, контроля, прогнозирования надёжности широкого класса микроэлектронных устройств. Представлены типичные диагностические задачи и примеры практического применения термодинамических методов.
Для специалистов в области качества и надёжности изделий микроэлектроники, радиоэлектроники и приборостроения.