Подробное описание документа

   Количественная калибровка кантилевера магнитно-силового микроскопа с использованием проводов с током / Пурий А. В., Батурин А. С., Шешин Е. П., Шерстнев П. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 7. - С. 70-74.

УДК

620.18 Исследования структуры материалов. Металлография и соответствующие исследования неметаллических материалов

Статья опубликована в следующих изданиях