Подробное описание документа

   Статья

Брюхова Ю. В., Зайцев Н. А.
   Анализ разброса физико-технических параметров полупроводниковых приборов / Брюхова Ю. В., Зайцев Н. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 1. - С. 48-53.

УДК

621.3.049.77 Микроэлектроника. Интегральные схемы

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 48-53

   Журнал

   Нано- и микросистемная техника.
   № 1. - 2008.

подробнее