Подробное описание документа

Брюхова Ю. В., Зайцев Н. А.
   Анализ разброса физико-технических параметров полупроводниковых приборов / Брюхова Ю. В., Зайцев Н. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 1. - С. 48-53.

УДК

621.3.049.77 Микроэлектроника. Интегральные схемы

Статья опубликована в следующих изданиях