Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

   Магнитная толщинометрия слабомагнитных мелкодисперсных покрытий / Лухвич А. А., Лукьянов А. Л., Калошин В. А., Шукевич А. К. // Дефектоскопия. - 2008. - № 10. - С. 35-42.

620.179 Методы испытаний материалов без разрушения. Дефектоскопия. Прочие методы испытаний

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 35-42
   Журнал
   Дефектоскопия.
   № 10. - 2008.