Подробное описание документа

   Статья

Пашагин А. И., Бенклеевская Н. П.
   Зависимость магнитного поля дефекта от расстояния до поверхности контролируемого изделия / Пашагин А. И., Бенклеевская Н. П. // Дефектоскопия. - 2008. - № 11. - С. 82-87.

УДК

620.179 Методы испытаний материалов без разрушения. Дефектоскопия. Прочие методы испытаний

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 82-87

   Журнал

   Дефектоскопия.
   № 11. - 2008.

подробнее