Личный кабинет
Подробное описание документа
Сканирующая электронная микроскопия и рентгено-спектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие для вузов / Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. [и др.]. - М. : Техносфера, 2009. - 206 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.
Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации,необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии.
В качестве учебного пособия книга предназначена для инженеров, аспирантов и студентов,повышающих свою квалификацию или обучающихся по специальностям,связанным с машиностроением и материаловедением. Ее можно использовать как вводный курс для операторов или непосредственных пользователей сканирующих электронных микроскопов. Книга также будет полезна специалистам,которым приходится ставить задачи,требующие применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.
5 экз.
- Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
