Подробное описание документа

Уайтхауз Д.
Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы / Уайтхауз Д. ; пер. с англ. Григорьев А. Я., Ткачук Д. В. ; ред. пер. Мышкин Н. К. - Долгопрудный : Интеллект, 2009. - 471 с. : ил. - Библиогр.: с. 469-471. - ISBN 978-5-91559-023-5.

Аннотация

Учебно-справочное руководство известного специалиста отражает как совершенствовавшиеся много десятилетий методы обработки и контроля качества поверхностей в машиностроении и оптическом приборостроении,так и достижения последних лет (включая новые способы описания характеристик и использование сканирующих микроскопов).
Для технических университетов и специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков.

УДК
621.9.015 Качество, чистота поверхности

Предметные рубрики

Качество обработанной поверхности

Общее кол-во в фондах
12 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов

Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
Читальный зал ауд.345, ГУК, ауд. 345