Подробное описание документа
Китайский В. Е.
Патентная экспертиза : учебник / Китайский В. Е. ; Федерал. служба по интеллектуальной собственности, патентам и товарным знакам, Рос. гос. ин-т интеллектуальной собственности (РГИИС). - М. : РГИИС, 2005. - 342 с. : ил. - Библиогр.:
Учебник «Основы патентной экспертизы» предназначен для студентов и слушателей всех форм обучения Российского государственного института интеллектуальной собственности, специализирующихся в области создания, охраны и коммерческого использования объектов промышленной собственности изобретений, полезных моделей, промышленных образцов, товарных знаков и нанменований мест происхождения товаров. В учебнике подробно освешены вопросы подготовки заявочных материалов, их подачи и рассмотрения в Федеральном органе исполнительной власти по интеллектуальной собственности и поэтому он может быть полезным для патентных работников предприятий, сотрудников фирм патентных поверенных и для полготовки к сдаче квалификационных экзаменов кандидатов патентных поверенных. При составлении учебника были учтены мнения, использованы работы и результаты исследований специалистов в области патентной экспертизы различных объектов промышленной собственности: О.Л. Алексеевой, Р.С. Восканяна, С.А. Горленко, В.Ю. Джермакяна, В.Н. Забелина, В.К. Казаковой, А.Д. Корчагина, А.А. Минаева, В.В. Орловой, ЕЛ. Полищука, Н.Н. Разумовской, Л.В. Сабоды, В.В. Сеньковского, В.Б. Талянского и многих других, содержащиеся в приведенном в конце книги списке литературы.
347.77 Индустриальная (промышленная, научная) собственность и право собственности. Патентное право и право на товарный знак. Регистрация промышленных образцов, проектов, наименований и пр.2 экз.
- Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313