Подробное описание документа

Коротков В. П. , Тайц Б. А.
   Основы метрологии и теории точности измерительных устройств. - Изд. 2-е, перераб. и доп. - М. : Изд-во стандартов, 1978. - 351 с.

Общее кол-во в фондах

5 экз.

1. Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
3. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313